1、第三章 射线探伤（RT）3 一一 1 射线检测基本原理射线检测基本原理 射线种类射线种类射线分有：射线分有：X 射线（波长为（波长为 0.001-0.1nm,射线能量及射线能量及强度均可调节。探伤灵敏度一般为强度均可调节。探伤灵敏度一般为 1%一一 2%。）射线（波长为（波长为 0.0003-0.1nm,能量不能调能量不能调节，衰变速率也是固定的 节，衰变速率也是固定的.）高能密度 X 射线（指射线能量在（指射线能量在 1MeV 以以上的上的 X 射线，焊缝探伤用高能密度射线，焊缝探伤用高能密度 X 射线一射线一般在般在 15 一一 30MeV,探伤灵敏度较高（探伤灵敏度较高（0.5%一一1%
2、）射线性质射线性质（1）不可见，以光速直线传播（2）不带电，因而不会受电场和磁场的作用。（3）具有可穿透可见光所不能穿透的物质（例如骨骼、金属、非金属等）和在物质中有衰减的特性。（4）可使物质电离，能使胶片感光，也能使某 物质产生荧光。（5）能起生物效应，伤害和杀死生物细胞。射线与物质相互作用射线与物质相互作用入射到物体的射线，因为一部分能量被吸收、一部分能量被散射而减弱，使其强度发生衰减。单色平行射线入射物体后的衰减规律可用下式表示：式中 I-射线穿透厚度为 物体后的射线强度；I0-入射射线强度；-透过物体的厚度；-线衰减系数。也就是说射线穿透工件后，有缺陷地方的也就是说射线穿透工件后，有缺
3、陷地方的上式表明，射线的强度是呈上式表明，射线的强度是呈负指数规律负指数规律衰减的衰减的。它随透过物体的厚度和线衰减系。它随透过物体的厚度和线衰减系数的增加而增大。数的增加而增大。线衰减系数 线衰减系数值值与射线的与射线的波长波长（）及被穿透物质性质（及被穿透物质性质（原子序数原子序数 Z、密度密度）有关。）有关。对同样的物质对同样的物质，入射射线波长入射射线波长（）越长，越长，值越大；值越大；对相同波长对相同波长（或能量）的入射射线（或能量）的入射射线，物质的原子序数物质的原子序数 Z 越大，密度越大，密度 越大，越大，则则值也越大。值也越大。射线照相法探伤原理射线照相法探伤原理图中射线在构
4、件中及缺陷中的线衰减系数分别是：无缺陷部位为；缺陷部位为。根据衰减定律，透过无缺陷部位 X 厚的射线强度为：透过缺陷部分的射线强度为：也就是说射线穿透工件后，有缺陷地方也就是说射线穿透工件后，有缺陷地方的强度与无缺陷处的强度是不一样的。的强度与无缺陷处的强度是不一样的。若在工件的下方（紧贴工件）放一张若在工件的下方（紧贴工件）放一张 X光工业胶片，胶片受光工业胶片，胶片受 X 光照射可以感光。光照射可以感光。由于有缺陷地方的射伐强度与无缺陷处由于有缺陷地方的射伐强度与无缺陷处的射结强度是不一样的，所以它反映在的射结强度是不一样的，所以它反映在胶片上的感光程度将是不同的。我们即胶片上的感光程度将
5、是不同的。我们即可在感光后的胶片（可在感光后的胶片（X 光底片）上通过光底片）上通过这一不同判断出缺陷的性质、尺寸及缺这一不同判断出缺陷的性质、尺寸及缺陷产生的部位。陷产生的部位。缺陷部分缺陷部分 分如下两种情况：分如下两种情况：（1）当）当 IX。缺陷在射线照相法探伤的底片上呈黑色缺陷在射线照相法探伤的底片上呈黑色影象，在电视屏幕上呈灰白色影象。影象，在电视屏幕上呈灰白色影象。（2）当）当 时（缺陷为夹钨，即缺时（缺陷为夹钨，即缺陷部位透过射线强度小于周围完好部陷部位透过射线强度小于周围完好部位），位），I100KV-150KV100KV-150KVC5C5C3C3铅屏（前后）铅屏（前后）铅
6、屏（前后）铅屏（前后）0.020.02 一一一一0.150.15X X 射线射线射线射线 150KV-250KV150KV-250KVC5C5C4C4铅屏（前后）铅屏（前后）铅屏（前后）铅屏（前后）0.020.02 一一一一0.150.15 Ir192 Ir192 C5C5C4C4前铅屏前铅屏前铅屏前铅屏 0.020.02 一一一一 0.15 0.15 后后后后铅屏铅屏铅屏铅屏 0.02-0.20.02-0.2Co60Co60 穿透厚度穿透厚度穿透厚度穿透厚度:100:100C5C5C4C4铅屏钢或铜屏（前铅屏钢或铜屏（前铅屏钢或铜屏（前铅屏钢或铜屏（前后）后）后）后）0.25-0.70.25
7、-0.7增感屏主要特点比较增感屏主要特点比较增感屏种类增感屏种类增感屏种类增感屏种类主要增感物质主要增感物质主要增感物质主要增感物质增感机理增感机理增感机理增感机理增感系数增感系数增感系数增感系数屏不清晰度屏不清晰度屏不清晰度屏不清晰度金属增感屏金属增感屏金属增感屏金属增感屏铅合金等金属箔铅合金等金属箔铅合金等金属箔铅合金等金属箔二次电子二次电子二次电子二次电子低低低低 无无无无荧光增感屏荧光增感屏荧光增感屏荧光增感屏钨酸钙等荧光物钨酸钙等荧光物钨酸钙等荧光物钨酸钙等荧光物质质质质荧光荧光荧光荧光很高很高很高很高很大很大很大很大金属荧光增金属荧光增金属荧光增金属荧光增感屏感屏感屏感屏钨酸钙等荧
8、光物钨酸钙等荧光物钨酸钙等荧光物钨酸钙等荧光物质质质质荧光荧光荧光荧光高高高高大大大大 象质计象质计作用：作用：是用来定量评价射线底片影象质量的是用来定量评价射线底片影象质量的工具工具，即用象质计来测定射线底片的射，即用象质计来测定射线底片的射线照相灵敏度。它表示某种特定形状的线照相灵敏度。它表示某种特定形状的细节在使用的射线照相技术下可被发现细节在使用的射线照相技术下可被发现的程度，它的程度，它不完全等同于同样尺寸的自不完全等同于同样尺寸的自然缺陷可被发现的程度。然缺陷可被发现的程度。类型：类型：1)丝型象质计、丝型象质计、2)阶梯孔型象质计阶梯孔型象质计、3)槽式象质计。槽式象质计。射线照
9、相灵敏度的表示方法：射线照相灵敏度的表示方法：有两种，一种称为相对灵敏度，另有两种，一种称为相对灵敏度，另一种称为绝对灵敏度。一种称为绝对灵敏度。相对灵敏度以百分比表示，即以相对灵敏度以百分比表示，即以射线照片上可识别的象质计的最小射线照片上可识别的象质计的最小细节的尺寸与被透照工件的厚度之细节的尺寸与被透照工件的厚度之比的百分数表示。比的百分数表示。绝对灵敏度则以射线照片上可识绝对灵敏度则以射线照片上可识别的象质计的最细小尺寸表示。别的象质计的最细小尺寸表示。1）丝型象质计）丝型象质计 丝型象质计它采用与被透照构件材料相同或相近的材料制做的 7 根金属丝，按直径大小的顺序、以规定的间距平行排
10、列、封装在对射线吸收系数很低的透明材料中。不同材质线型像质计的组别标志和适用范围（不同材质线型像质计的组别标志和适用范围（GB/T3323-2005）组别标志组别标志组别标志组别标志像质计丝号像质计丝号像质计丝号像质计丝号金属丝材质金属丝材质金属丝材质金属丝材质适用范围适用范围适用范围适用范围 W1FF W1FF W6FF W6FF W10FF W10FF W13FF W13FF W1W7W1W7W8W12W8W12W10W16W10W16W13W19W13W19碳素钢碳素钢碳素钢碳素钢铁类材料铁类材料铁类材料铁类材料 W1CUW1CUW6CUW6CU W10CUW10CU W13CU W13
11、CU W1W7W1W7W8W12W8W12W10W16W10W16W13W19W13W19铜铜铜铜铜、锌、锡及锡铜、锌、锡及锡铜、锌、锡及锡铜、锌、锡及锡合金合金合金合金 W1ALW1AL W6ALW6AL W10ALW10AL W13ALW13ALW1W7W1W7W8W12W8W12W10W16W10W16W13W19W13W19 铝铝铝铝铝及铝合金铝及铝合金铝及铝合金铝及铝合金W1 TIW1 TIW6 TIW6 TIW10 TIW10 TIW13 TIW13 TIW1W7W1W7W8W12W8W12W10W16W10W16W13W19W13W19钛钛钛钛钛及钛合金钛及钛合金钛及钛合金钛及钛
12、合金像质计线号和标称线径（像质计线号和标称线径（JB/T7902-2006）像质计含的线像质计含的线像质计含的线像质计含的线金属线金属线金属线金属线1 1 号号号号6 6 号号号号1010 号号号号1313 号号号号线号线号线号线号标称线径标称线径标称线径标称线径X X1 13.203.20X X2 22.502.50X X3 32.002.00X X4 41.601.60X X5 51.251.25X X X X6 61.001.00X XX X7 70.800.80X X8 80.630.63X X9 90.500.50X XX X10100.400.40X XX X11110.320.3
13、2X XX X12120.250.25X XX X13130.200.20X XX X14140.160.16X XX X15150.1250.125X XX X16160.1000.100X X17170.0800.080X X18180.0630.063X X19190.0500.050安放工件上工件上，在焊缝被检区长度 1/4 处，钢丝横跨焊缝上横跨焊缝上并与焊缝轴线垂直与焊缝轴线垂直，且最最细丝朝外。细丝朝外。2）阶梯孔型象质计 基本结构是在阶梯块上钻直径等于阶梯基本结构是在阶梯块上钻直径等于阶梯厚度的通孔，孔的中心线垂直阶梯表面厚度的通孔，孔的中心线垂直阶梯表面、不做倒角。常用的阶梯
14、形状是矩形和、不做倒角。常用的阶梯形状是矩形和正六边形 正六边形(5)铅罩、铅光阑 附加在 X 射线机窗口的铅罩或铅光阑可以限制射线照射区域大小和得到合适的照射量，从而减少来自其它物体（如地面、墙壁、构件非受检区）的散射作用，以避免和减少散射线所导致底片灰雾度的增加。(6)铅遮板铅遮板 工件表面和周围的铅遮板，可以有效地屏蔽前方散射线和工件外缘由散射引起的“边蚀”效应。（7）底部铅板 又称为后防护铅板，是屏蔽后方散又称为后防护铅板，是屏蔽后方散射线（如来自地面）所用。射线（如来自地面）所用。（8）滤板 材料通常是铜、黄铜和铅，其材料通常是铜、黄铜和铅，其厚度应合适。例如透照钢时所用铜厚度应合适
15、。例如透照钢时所用铜滤板的厚度不大于工件最大厚度的滤板的厚度不大于工件最大厚度的20%，而铅板则不得大于，而铅板则不得大于 3%。作用：是吸收掉作用：是吸收掉 X 射线中那些射线中那些波长较大易引起散射线的谱线。波长较大易引起散射线的谱线。（9）暗盒 暗盒用对射线吸收不明显，暗盒用对射线吸收不明显，对影象无影响的柔软塑料带制成。对影象无影响的柔软塑料带制成。要求它能很好的弯曲和紧贴工件。要求它能很好的弯曲和紧贴工件。（10）标记带 标记带可使每张射线底片与标记带可使每张射线底片与构件被检部位始终能做到一一对构件被检部位始终能做到一一对照（即实现所谓的可追踪性）。照（即实现所谓的可追踪性）。其上
16、的铅质标记有：定位标记定位标记（中心标记、搭接标记）、识别标记识别标记（工件编号、部位编号、焊缝编号、返修标记）、B 标记标记等。B 标记应贴附在暗盒背面，以检查背面散线防护效果。若在底片上出现“B”的较淡影象，应予重照。铅质标记与被检区域同时透照在底片上，它们的安放位置见 P40 图 314。（注意解释 AJ、K 内容，以及 B 标记应安放位置）.射线照相检测条件选择射线照相检测条件选择 （1）选择依据）选择依据 1）射线透照技术质量要求）射线透照技术质量要求 透照钢熔化焊对接接头时应以GB33232005 钢熔化焊对接接头射线照相标准为依据。它把射线透照技术质量分为两个级别。两个级别分别为
17、：A 级-普通级别。B 级-优化级别。同样的透照厚度，针对不同的透照技术质量同样的透照厚度，针对不同的透照技术质量级别来说，应识别的金属丝号级别来说，应识别的金属丝号(象质计数象质计数值 值)不同。不同。举例举例 1：透照厚度透照厚度 8mm，对应，对应 A 级透照技术级透照技术，应识别的金属丝号，应识别的金属丝号(象质计数值 象质计数值)为为 W13（丝径（丝径 0.20），对应），对应 B 级透照技术，应识别级透照技术，应识别的金属丝号的金属丝号(象质计数值 象质计数值)为为 W15（丝径（丝径0.125）。）。举例举例 2：透照厚度透照厚度 20mm，对应，对应 A 级透照技级透照技术，
18、应识别的金属丝号术，应识别的金属丝号(象质计数值 象质计数值)为为W11（丝径（丝径 0.32），对应），对应 B 级透照技术，应级透照技术，应识别的金属丝号识别的金属丝号(象质计数值 象质计数值)为为 W13（丝（丝径径 0.20）。）。2）灵敏度 灵敏度是评价射线照相质量最重要指标，它标志着灵敏度是评价射线照相质量最重要指标，它标志着射线检测中发现缺陷的能力射线检测中发现缺陷的能力。由于无法预知工件沿射线穿透方向上应识别的最小缺陷尺寸，为此必须采用已知尺寸的人工“缺陷”（金属丝、圆孔）象质计来度量。各种类型的象质计都是用来测定射线照相灵敏度的工具。利用象质计得到的射线照相灵敏度，仅用以衡量
19、射线照相影像的质量，而不能直接表示可以发现自然缺陷的实际尺寸。射线照相灵敏度是射线照相对比度（又称为衬度。它指小细节或小缺陷与其周围的黑度差）和清晰度（黑度变化明锐或不明锐程度）两大因素的综合效果。射线照相清晰度包括：射线照相清晰度包括：几何不清晰度 ug 由于 X 射线机的焦点并不是点状源，而是有定尺寸，必然会产生一个半影，这个半影被称为几何不半影被称为几何不清晰度清晰度 ug。它使缺陷边缘影像变的模糊，使清晰度下降。(P44 图 3-19)焦点尺寸对几何不清晰度的影响 固有不清晰度固有不清晰度 ui 入射到胶片的射线在乳剂层激发出次级电子的散线而形成的不清晰度。固有不清晰度 ui 随射线能
20、量增加而增加。3）黑度 底片黑度（或光学密度）D：是指曝光并经暗室处理后的底片黑化程度。底片黑化程度。黑度定义的数学表示：黑度定义的数学表示：D=Ig（Lo/L）式中 式中 Lo 入射光强；入射光强；L 透射光强。透射光强。射线底片黑度可用黑度计（光密度计）直接在底片的规定部位测量（见 P41 图 316）。初始灰雾度 Do 是指未经曝光的底片经显影处理后获得的黑度，它也包含了胶片本身的不透明度。黑度测量部位C、D-为最大处 A、B-为最小处GB3323-2005 规定各检测技术等级规定各检测技术等级的黑度值如的黑度值如:等 级 等 级 A:黑 度黑 度 2.0;等 级 等 级 B:黑 度黑
21、度 2.3。（2）X 射线照相法探伤参数选择1）管电压选择）管电压选择 管电压越高管电压越高，射线的“质”越硬，射线的“质”越硬，穿透能力越强，穿透能力越强。同时使底片的对。同时使底片的对比度下降（即底片相邻区域的黑度差比度下降（即底片相邻区域的黑度差别变小）。别变小）。管电压应在保证穿透前提下，尽量管电压应在保证穿透前提下，尽量选择较低管电压。选择较低管电压。GB33232005 标准中对允许使用的标准中对允许使用的最高管电压和透照厚度的下限做了规最高管电压和透照厚度的下限做了规定定.透照厚度和允许使用的最高管电压透照厚度和允许使用的最高管电压 射线和射线和 1MeV 以上以上 X 射线对钢
22、、铜和镍基射线对钢、铜和镍基合金所适用穿透厚度合金所适用穿透厚度射线种类 射线种类 穿透厚度穿透厚度/mm/mm A A 级 级 B B 级 级 Tm Tm 5 5 5 5 Yb169a Yb169a 115 115 212 212 Se75b Se75b 1040 1040 1440 1440 Ir192 Ir192 20100 20100 2090 2090 Co60 Co60 4040200 200 60150 60150 X X 射线射线 1MeV1MeV 一一 4MeV 4MeV 30200 30200 50180 50180 2)管电流（管电流（mA）选择）选择 当管电压不变时，管
23、电流（mA）越大，X 射线强度越大，保持底片黑度一定则可以缩短曝光时间。管电流（mA）大小对底片黑度影响较大。3)焦点尺寸选择焦点尺寸选择 焦点尺寸越小焦点尺寸越小，半影宽度越小，半影宽度越小，清晰度高，清晰度高。4)透照距离透照距离 F 的选择的选择 透照距离 F：指焦点至胶片之间距离。参见 P45 图 320“透照距离对几何不清晰度影响”。F 越大 ug越小。在国内外相关标准中，最小透照距离（最小焦距 F）均依照几何不清晰度原理使用诺模图来确定。(P45图 322)透照距离F F对几何不清晰度影响（示例：己知 d=3mm，=20mm，ug=0.4mm。最小透照距离是多少？在图中（d）标尺中
24、找到“3”刻度，在（）标尺上找到“20”刻度，用直线连接这二点交于（F-）标尺的“150”刻度。得到射线源焦点至工件表面距离为 150mm，最小透照距离 Fmin=150+20=170mm。）。5)缺陷至胶片距离缺陷至胶片距离 h 参见 P45 图 321“缺陷至胶片距离对几何不清晰度影响”。h 越大 ug越大。所以胶片应紧贴工件下表所以胶片应紧贴工件下表面面。6)X 射线辐射角选择射线辐射角选择 X 射线辐射角分为：射线辐射角分为：定向定向,定向适用于定向分定向适用于定向分段曝光。段曝光。周向周向,周向适用于环焊缝周向适用于环焊缝整圈一次周向曝光。整圈一次周向曝光。缺陷至胶片距离对几何不清晰
25、度影响 7)X 射线探伤主要参数的选择射线探伤主要参数的选择 在一定的探伤器材、几 何条件和暗室处理在一定的探伤器材、几 何条件和暗室处理等条件下，欲莸得规定黑度值的底片，对等条件下，欲莸得规定黑度值的底片，对某一厚度工件应选用的透照参数叫曝光条某一厚度工件应选用的透照参数叫曝光条件，又称为曝光规范。件，又称为曝光规范。X 射线检测的主要规范参数是射线检测的主要规范参数是：管电压、：管电压、管电流、焦距和曝光时间；管电流、焦距和曝光时间；射线检测的主要规范参数是射线检测的主要规范参数是：焦距和曝：焦距和曝光时间。光时间。X 射线检测的常用曝光曲线有两种：射线检测的常用曝光曲线有两种：1）P45
26、 图 323“以管电压为参数的曝光曲线”以管电压为参数的曝光曲线 2）P46 图 324“以曝光量（mA X min）为参数的曝光曲线”以曝光量（mAXmin）为参数的曝光曲线 由于一张二维坐标图最多只能表示三个相由于一张二维坐标图最多只能表示三个相关参数，因此在构成关参数，因此在构成 X 射线曝光曲线时，一射线曝光曲线时，一般只能选择透照厚度、管电压和曝光量做为般只能选择透照厚度、管电压和曝光量做为可变参数，其它条件相对固定。可变参数，其它条件相对固定。目前用得较多的是目前用得较多的是 P45 图图 323“以管电以管电压为参数的曝光曲线”那种。压为参数的曝光曲线”那种。值得注意的是，任何曝
27、光曲线只适用于一值得注意的是，任何曝光曲线只适用于一组特定条件。组特定条件。只有当实际拍片（探伤）所用只有当实际拍片（探伤）所用的所有条件与制做曝光曲线的条件完全一致的所有条件与制做曝光曲线的条件完全一致时，时，才能从曲线中直接找出所需曝光量。任才能从曲线中直接找出所需曝光量。任何条件的改变都应对曝光量进行修正。何条件的改变都应对曝光量进行修正。图图 7-16 射线检测的曝光曲线。射线检测的曝光曲线。Co60曝光曲线 散射线的控制散射线的控制 射线探伤时，凡受射线照射的物体（工件、暗盒、墙璧、地面、甚至空气）都会成为散射源。散射线使底片灰雾度增大，对比度和清晰度下降。其影响程度与散射比 n 有
28、关。n=Is/I式中 Is 散射线强度；I 直接透射强度。散射比散射比n与与 1)射线能量、射线能量、2)透照厚透照厚度度 有关。有关。实验表明：射线能量减小实验表明：射线能量减小、透、透照厚度照厚度 增大增大，都使，都使n增大增大。如如 P47 图图 326 所示。所示。射线检测时，设置铅罩、铅光阑射线检测时，设置铅罩、铅光阑、铅遮板、底部铅板和滤板都主要、铅遮板、底部铅板和滤板都主要是为了减少散射线。另外，金属增是为了减少散射线。另外，金属增感屏也有减少散射线的作用。感屏也有减少散射线的作用。（4）透照方式的选择）透照方式的选择 GB3323-2005 标准规定，按射线源、工件和胶片之间的
29、相互位置关系，焊缝的透照方式分为：纵缝单壁透照法；单壁外透法；射线源中心法；射线源偏心法；椭圆透照法；垂直透照法；双璧单影法；不等厚透照法。a）纵缝单壁透照法 b）对接环缝单壁外透法 C）射线源中心法的对接环缝周向曝光 d）管对接环缝双璧单影法 e）椭圆透照法的管对接环缝双璧双影法 在透照方式确定之后，还应注意以下二点：在透照方式确定之后，还应注意以下二点：1）选择合适的射线入射方向）选择合适的射线入射方向 只有射线垂直入射工件中缺陷时，胶片上缺陷图像尺寸和形状才最接近实际。只有射线入射方向与裂纹、未熔合等面积型只有射线入射方向与裂纹、未熔合等面积型缺陷的深度相一致时缺陷的深度相一致时，胶片上
30、缺陷影像才最清晰（此时才具有最高检出率）。实践表明：当二者倾角大于 20 度时，裂纹漏检可能性大大增加。如 P49 图图 329“沿坡口方向透照图”所示，为便于检查出坡口面未熔合缺陷，应选与坡口面相一致（平行）的射线入射方向。沿坡口方向透照图 2）透照厚度差的控制）透照厚度差的控制 在在 X 射线机辐射角射线机辐射角 的照射场的照射场内，射线强度分布不均匀。如内，射线强度分布不均匀。如P49 图图 330“射线照射场内射线射线照射场内射线强度分布”所示并不是均匀的，强度分布”所示并不是均匀的，可以看出：中心最强，边上弱。可以看出：中心最强，边上弱。愈靠近边缘，射线强度愈弱，黑愈靠近边缘，射线强
31、度愈弱，黑度愈低。度愈低。透照工件时，中心射线穿透的透照工件时，中心射线穿透的工件厚度小于边缘射线穿透的工工件厚度小于边缘射线穿透的工件厚度，产生了透照厚度差件厚度，产生了透照厚度差（,）。这也使底片边缘部）。这也使底片边缘部位的黑度值低于中间部位的黑度位的黑度值低于中间部位的黑度值，降低了底片两端图像的对比值，降低了底片两端图像的对比度，在胶片两端产生缺陷漏检的度，在胶片两端产生缺陷漏检的可能性将提高。可能性将提高。为此控制透照厚度比为此控制透照厚度比 A。透照技术等级 透照技术等级 A 级级:透照厚度比透照厚度比 A 1.2透照技术等级 透照技术等级 B 级级:透照厚度比透照厚度比 A 1
32、.1 对透照厚度比对透照厚度比A的限制，实际表现的限制，实际表现为为对每次透照（检测或探伤）长度的 对每次透照（检测或探伤）长度的 控制。控制。对某条长焊缝来说，可以看作该对某条长焊缝来说，可以看作该焊缝需要透照多少个段落（检测区段）焊缝需要透照多少个段落（检测区段）。角接头、角接头、T 型接头要加型接头要加补偿块补偿块以弥以弥补透照厚度上的差别。补透照厚度上的差别。见见 P50 图图 332“安放补偿块”安放补偿块”a.角接接头、角接接头、b.T 型接型接接头。注：补偿块材料与工件材料相同接头。注：补偿块材料与工件材料相同。焊接接头射线照相缺陷评定焊接接头射线照相缺陷评定 底片本身质量评判底
33、片本身质量评判 底片黑度底片黑度：透照技术质量透照技术质量 A 级级 D2.0、透照技术质、透照技术质量量 B 级级 D2.3。底片初始灰雾度。底片初始灰雾度 Do0.3。象质计数值象质计数值：1)相等的透照厚度下，不同的透照相等的透照厚度下，不同的透照技术技术 质量所要求的象质计数值是不质量所要求的象质计数值是不样的。样的。2)相同的透照相同的透照技术技术 质量下，不同的透照厚度所要求的象质计数值是不质量下，不同的透照厚度所要求的象质计数值是不样样的的。散射线控制情况散射线控制情况：检查底片上是否有“检查底片上是否有“B”的影像的影像，若有则认为底面防护不够，应于重照。若有则认为底面防护不够，应于重照。标记的齐全性及正确性检查标记的齐全性及正确性检查：伪缺陷检查伪缺陷检查：焊接接头质量分级焊接接头质量分级根据缺陷性质和数量，焊接接头质量分为四个等级。I 级级焊接接头：应无裂纹、未熔合、未
