1、在大量重复实验中，具有统计规律的不确定现象。其理论基础为概率学和数理统计。统计技术 研究随机现象数学规律的一门学科。包括统计推断和统计控制。应用统计技术应具备相应的条件。包括：有管理基础、5M标准化、培训、资源。3。随机分布质量特性数据分布所符合的某种规律。12正态分布的概念 1正态分布的数学表达式：f （x）=e 2正态分布曲线的特征分析：分布宽度及分布位置。正态分布曲线的特性分析: 标准差及偏移量。4变差 一个数据组，对于目标值存在不同的差异。 亦可称为数据的不一致性和离散性。研究变差是SPC的重要任务。本节思考题 什么是统计技术？ 统计技术的内容和应具备的条件是什么？ 什么是随机分布？
2、正态分布曲线的特征是什么？ 正态分布曲线的特性是什么？ 什么是变差？为什么研究变差是SPC的重要任务？统计过程控制（SPC）的理解与实施统计过程控制二、统计过程控制1过程控制系统。识别过程特性的要求。明确过程特性（温度、时间、转速、进给等）明确过程特性目标值，使操作生产率最高。监测过程特性，并与目标值进行比较。偏离目标时，应采取措施改变操作：人员及材料改变基本因素：设备及交流改变过程设计：环境及方法， 要监测改进效果2变差的普通原因及特殊原因形成变差的普通原因。连续的、不可避免的影响产品特性不一致的因素。 其特点为：a. 该因素作用到每个零部件上。b. 随时间推移，不会改变特性分布规律形成变差
3、的特殊原因偶然的、断续的、可以避免的影响产品特性不一致的因素。 其特点为：a因素不是作用到每个零部件上b随时间推移，将会改变特性分布规律综合分析当该过程仅存在普通变差时，为稳定状态，过程受控。当过程存在特殊变差时，输出不稳定，过程失控。消除/减少变差原因的措施。消除特殊原因变差：采用局部措施，由操作人员实施，可纠正15%的问题。 减少普通原因变差：采用系统措施，由管理人员实施，可纠正85%的问题 消除/减少变差原因的目的消除特殊原因：使过程受控，输出可预测。减小普通原因：缩小分布宽度使顾客满意，降低成本。3过程控制和过程能力过程能力的4种类型过程受控，且完全满足规定的要求过程受控，不完全满足规
4、定的要求过程不受控，且完全满足规定的要求过程不受控，不完全满足规定的要求可接受的过程条件 必须受控 仅存变差的普通原因分布呈正态，且可预测分布宽度及位置能满足规定要求。 过程控制及改进循环分析过程：调整特性使过程受控维护过程：监测过程特性，查找变差特殊原因，并消除。改进过程：减少变差的普通原因，提高顾客满意度并降低成本以上步骤实施后，确定新的参数，开始新的循环。4控制图过程控制的工具。什么是控制图一种统计工具控制限的确定原则：兼顾成本前提下的错判率。控制图与正态分布曲线的关系。控制图使用的两个阶段建立控制图、确定控制限应用控制图，对过程进行监控。控制图的作用预知不合格向生产者及顾客提供质量稳定
5、的证据。减少普通原因变差来改进过程，降低成本区分普通原因及特殊原因的变差为操作者之间提供沟通的语言计量型控制图计量型控制图的概念a）用于可量化质量特性的监视，b）可分别观察分布宽度及分布位置，c）该控制图总是成对出现的。典型的计量型控制图有：x（均值）R（极差）图（均值）S（标准差）图（中位数）R（极差）图 x （单值）MR（移动极差）图其中： 、 、x 用于观察位置，R，S，MR用于观察宽度。计数型控制图 计数型控制图的概念a）、用于非量化质量特性的监测，b） 不能独立的观察分布位置及宽度。c） 单个出现典型的计数型控制图有：a） P（不合格率）图，b） np、u、c（不合格品数）图 识别过
6、程特性的步骤是什么？ 当过程特性偏离时应采取什么措施？ 什么是形成变差的普通原因？有哪些？ 什么是形成变差的特殊原因？ 当过程存在变差的普通原因时，过程是否受控？为什么？ 当过程存在变差的特殊原因时，过程是否失控？ 为什么要消除/减少变差产生原因？有哪些措施？ 过程能力有哪几种类型？ 可接受的过程条件是什么？ 过程控制及改进循环的步骤是什么？ 什么是控制图？它与正态分布曲线是什么关糸？ 确定控制限的原则是什么？ 控制图有什么作用？ 计量型控制图及计数型控制图的概念是什么？统计过程控制（SPC）的理解与实施计量型控制图三、计量型控制图（均值极差图）1准备阶段建立适合的环境确定作图的特性：重点工序
7、的重点特性，特别是特殊特性。确定测量系统，并进行MSA减少不必要的变差监测过程中，要记录重要的过程事件。2制图阶段（8个步骤）确定子组大小、频率及子组数子组大小（子组容量）：每次抽样时连续抽取的产品数（相同条件下）频率：隔多长时间抽一个子组（考虑生产节拍）子组数：在一张控制图上要描述多少个子组（一般为25个）建立控制图，并记录原始数据（均值图在上，极差图在下）计算每个子组的平均值 和极差R x1x2xnX= ,n 为样本容量，R=XmaxXmin n并将结果写入数据表中。选择控制图的刻度。 图：刻度范围至少为全部均值中的（XmaxXmin） R图：刻度从0最大，至少为前4个极差中，Rmax2.
8、 将 值及R值描于图上，并连线，可见图行趋势。Rx1x2xnX= KX 计算平均极差 及过程平均值 ，确定控制图中位线。R1R2RKR= ， K K为样本数量（即子组数量）计算控制限UCL及LCL，LCL= A2注意：控制限不是公差范围，超过控制限的点，并不意味着不合格。R， 图 ：UCL= +A2 ， R 图 ：UCL=D4 , LCL=D3 其中；A2、D4、D3均为常数，查SPC手册将中位线及两图的上下控制限描于图上。控制图完成。 3、分析及延长控制限阶段 异常情况分析出现超限的点a） 说明：存在偶然的孤立的特殊原因变差。b） 分析：人员情绪，设备故障，原料疵点。能源供应失常等。出现非随机图形存在彼此相关且连续的特殊原因变差。刀具、模具、材料的不一致性、能源供应不稳定。操作方法随意性等。出现链存在有规律的特殊原因变差。设备故障早期发生、刀具、模具的逐步磨损等。采取措施（局部措施），消除产生的原因。延长控制限。失控原因已被识别并消除后，应剔除该点数据，重新计算中位线和控制限以便长期观察使用。注意：a） R图失控， 图失控，各自剔除失控点数据。b） R图失控， 图未失控，剔除R图及 图相应点数据。c）. 图失控，R图未失控，仅剔除 图失控点数据d.） 剔除数据后，样本数量不得小于20
