电子元件抽样方案模板.docx
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电子元件抽样方案模板
电子元件抽样方案
元器件的抽样方案
1.目的
本标准为制定计划及检验程序的基准,并为未来抽样计划之多样化提供资料上的支持,保留持续的文件适用性。
2.适用范围本文件适用于公司范围内质量保证部所进行的检验活动。
3.抽样水准:
3.1除书面规定的厂商采用固定抽样检验计划外,其它,一般采用本文件给出的动态检验转换抽样表,
抽样样本数一般以批量数量为准,一个批量的数量一般为一个单据的记录数量.这样的单据有:
进货验收单,入库验收单等.
3.2依据产品质量特性(含结构,尺寸,电气特性,机械性能,功能等)决定抽验计划,抽验数量及允收品质.水准(AQL).依据物料类别区分,各产品质量特性抽检数量
3.3新产品之初次(批)成品,贵重的进货品等,当无特别规定时,一般需全数检验.
产品材料类别
CRI
MAJ
MIN
备注
电容
0
0.25%
0.65%
三极管
0
0.25%
0.65%
二极管
0
0.25%
0.65%
芯片
0
0.25%
0.65%
电阻
0
0.25%
0.65%
4.检验依据
4.1工程图纸
4.2检验指示
43产品规格书
4.4检验计划
4.5样品对照
4.6评估报告和承认书
4.7客户订单
五.检验转换:
5.1转换说明
fN→R连续三批合格
fR→N一批退货
fT→N连续三批合格
fN→T连续三批中有二批拒收
fN--正常
fT--加严
fR–放宽
原则上采用上述检验秩序转换,根据需要公司也可根据实际需求进行加严,正常,放宽的转换程序.
5.2正常检验
批量
样本
允收品质水准(AQL)
0.5
0.25
0.4
0.65
10.
1.5
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
2-8
2
9-15
3
16-25
5
26-50
8
01
51-90
13
01
91-150
20
01
151-280
32
01
12
281-500
50
01
12
23
501-1200
80
01
12
23
34
1201-3200
125
12
23
34
56
3201-10000
200
12
23
34
56
78
10001-35000
315
12
23
34
56
78
1011
3
500
23
34
56
78
1011
1415
15
800
34
56
78
1011
1415
2122
500001-
1250
56
78
1011
1415
2122
备注:
fAc允收数
fRe拒收数
f↓:
采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批量则用100%之检验.
f↑:
采用箭头上第一个抽样计划.
5.3放宽检验
批量
样本
允收品质水准(AQL)
0.5
0.25
0.4
0.65
10.
1.5
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
2-8
2
9-15
2
16-25
2
26-50
3
01
51-90
5
01
91-150
8
01
151-280
13
01
02
281-500
20
01
02
13
501-1200
32
01
02
13
14
1201-3200
50
02
13
14
25
3201-10000
80
02
13
14
25
36
10001-35000
125
02
13
14
25
36
58
3
200
13
14
25
36
58
710
15
315
14
25
36
58
710
1013
500001-
500
25
36
58
710
1013
备注:
fAc允收数
fRe拒收数
f↓:
采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批量则用100%之检验.
f↑:
采用箭头上第一个抽样计划.
f如二个次数样本已超过允收数,但尚未达到拒收数时,可允收此批,惟以后须恢复正常检验.
5.4加严检验
批量
样本
允收品质水准(AQL)
0.5
0.25
0.4
0.65
10.
1.5
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
2-8
2
9-15
3
16-25
5
26-50
8
51-90
13
01
91-150
20
01
151-280
32
01
281-500
50
01
12
501-1200
80
01
12
23
1201-3200
125
01
12
23
34
3201-10000
200
12
23
34
56
10001-35000
315
12
23
34
56
89
3
500
13
23
34
56
89
1213
15
800
14
34
56
89
1213
1819
500001-
1250
25
56
89
1213
1819
备注:
fAc允收数
fRe拒收数
f↓:
采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批量则用100%之检验.
f↑:
采用箭头上第一个抽样计划.
6.0
C=0抽样计划
說明:
本节内容变仅供参考,不作为其它文件的引用参考依据.
指示数值(相关联的AQLS)
.010.015.025
040
.065.10.15.25
.40.551.01.5
2.54.06.510.0
批量数
样本数
2~8
9~15
26~25
****
****
****
****
****
****
****
**138
*20138
5322
5322
5322
26~50
51~90
91~150
****
****
****
****
**8050
*1258050
3220138
3220138
32201312
5553
7654
11765
151~280
281~500
501~1200
****
***315
*800500
315
20012580
50
20012580
50
32202019
48472021
73473427
131076
161197
1915118
1201~3200
3201~10000
10001~35000
1250800500
315
1250800500
315
200125120
116
200192189
116
73534235
86685038
108776046
2318139
2922159
3529159
35001~150000
150001~500000
500001~
1250800500
490
1250800750
715
476294218
170
476345270
200
123967456
15611990
64
189143102
4029159
4029159
4029159
备注:
f”*"表示整批都须检验
f允收数均为零
7.0较完整MIL-STD-105E单次抽样计划摘录
说明:
除非特别指出,本章节为本公司抽样检验计划的基准,为标准的抽样计划表.
相关联的(AQLS)
一般检验水准(Ⅱ)
批量數
样本大小
允收品质水准(AQL)
0.10
0.15
0.25
0.4
0.65
1.0
1.5
2.5
4.0
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
AcRe
2~8
9~15
16~25
2
3
5
01
01
26~50
51~90
91~150
8
13
20
01
01
01
12
12
23
151~28
281~500
501~1200
32
50
80
01
01
01
12
12
23
12
23
34
23
34
56
34
56
78
1201~3200
3201~10000
10001~35000
125
200
315
01
12
12
23
12
23
34
23
34
56
34
56
78
56
78
1011
78
1011
1415
1011
1415
2122
35001~150000
150001~500000
500001~
500
800
1250
12
23
34
23
34
56
34
56
78
56
67
1011
78
1011
1415
1011
1415
2122
1415
2122
2122
备注:
fAc允收数
fRe拒收数
f↓:
采用箭头下第一个抽样计划,如样本大小超过或等于批量时则用100%之检验.
f↑:
使用箭头上第一个抽样计划.
f本表摘自MIL-STD-105E抽样计划表.
8.0缺点定义
说明:
本章节给出了缺点定义的标准,作为所有相关文件的引用依据.
8.1严重缺点(CRITICALDEFECT,简写为:
CRI)
不良缺陷,使产品在生产、运输或使用过程中可能出现危及人身财产安全之缺点,称为严重缺点.
8.2主要缺点(MAJORDEFECT.简写为MAJ)不良缺陷,使产品失去全部或部分主要功能,或者相对
严重影响的结构装配的不良,从而显著降低
产品使用性的缺点,称为主要缺点.
8.3次要缺点(MINORDEFECT,简写为MIN)不良缺陷,能够造成产品部份性能偏差,或者一般外观缺
点,虽不影响产品的性能,但会使产品价值
降低的缺点,称为次要缺点.
9.备注
9.1固定检验抽验样本数为1pcs,定义厂商为:
东莞华科,厦门万明,深圳彩源.
9.2本抽样检验规范依据MIL-STD-105ELEVELⅡ与C=0抽样标准制订,其它检验抽样方法可
参照有关抽样检验之国际或国家标准.
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