VARINA 平板校正.docx
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VARINA 平板校正.docx
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VARINA平板校正
6.平板探测器校正,
6.1校正准备
1)将高压发生器的摄影参数调节为65KV,10mAs
2)调节折叠臂的高度和长度,设置SID=1.4米。
3)调节球管-限束器组件中心与探测器表面垂直。
4)按下限束器灯按钮,调节限束器叶片旋钮,直到光束能照射探测器最大曝光视野(探测器边缘)。
6.2平板校正
6.2.1校正设置
a)在开始菜单中,选择viva程序,启动VarianImageViewingandAcquisition(VIVA)程序,弹出如下VIVA主界面:
b)点击“Acquisition”,在下拉菜单中,点击“SystemSettings…”选项,弹出系统设置对话框,将ImageCorrections下“OffsetCorrections”“GainCorrections”“PixelDefectMap”“TPixelCorrection”四个选项前的“√”去掉,点击“OK”按钮,完成设置:
c)点击“Acquisition”,在下拉菜单中,点击“hardwareAcquisition”,使“hardwareshaking”菜单前出现“√”号。
6.2.2校正
1)OffsetCalibration校正
a)选择Acquisition→OffsetCalibration选项:
b)在下拉菜单中,点击“OffsetCalibration”选项,弹出偏移校正对话框,等待。
c)系统自动执行偏移校正,直至完成。
2)GainCalibration校正
a)将摄影条件设置为:
65KV,10mAs,大焦。
点击
按钮,等待出现如下界面
按曝光收开关进行曝光,
点击Cancel
将鼠标箭头移至图像上方,在软件左下方读出各点的ADU值
,图像上ADU平均值推荐为8000,如果ADU平均值大了则将曝光条件减小,若ADU平均值小了则增大曝光条件继续重复以上操作,直到接近ADU平均值8000,最后将此曝光条件定为GainCalibration的曝光条件。
b)选择Acquisition→GainCalibration项,弹出如下对话框,点击“OK”按钮,弹出增益校正对话框,系统自动检测。
c)当系统自动检测完成后,弹出如下对话框,等出现“X-rayexposureinprogress..Framecount:
0”提示信息时,按发生器手闸曝光,曝光结束后,提示信息“Framecount:
0”中的“0”变为“1”时,等待20秒左右,图像自动处理后,按发生器手闸第2次曝光……,连续曝光8次,点击“Finish”完成增益校正。
校正完成后点击“Acquisition”,在下拉菜单中,点击“SystemSettings…”选项,弹出系统设置对话框,将ImageCorrections下“OffsetCorrections”“GainCorrections”成设置:
“PixelDefectMap”“TPixelCorrection”四个选项前打“√”,点击“OK”按钮完成。
注意:
GainCalibration校正应该定期执行,一般三个月一次 。
6.3坏像素校正。
1)设置高压发生器曝光参数,设置原则是使所拍摄的模板中间不穿透,有效区域内不泛白。
参考摄影参数:
65KV,10mAs,大焦。
2)运行VIVA软件,等待运行成功后,点击
按钮:
按下曝光手闸,等待出现如下界面:
点击
,弹出下图。
点击Tools,在下拉菜单中点击Defects菜单里的DefectMapEditor…选项如下图:
图4-12
弹出如下对话框,点击Yes:
进入下图,
将最右边的图像拉到图像显示区,将图像放大寻找到坏像素点或坏线。
3)坏点修补方法:
将鼠标箭头放到坏点中心,记下图像左下角的坐标
,在
中填入坐标,如:
1472,792,然后点击ENTER键完成输入。
4)横向坏线修补方法:
将鼠标箭头放在横线的最左边的坏点坐标上记录该点坐标,将鼠标箭头放在横线的最右边的坏点坐标上记录该点坐标,在
中填入最左边坐标的像素坐标和最右边的坐标,如
,然后点击ENTER键完成输入。
5)纵向坏线修补方法:
将鼠标箭头放在纵线的最上边的坏点坐标上记录该点坐标,将鼠标箭头放在纵线的下边的坏点坐标上记录该点坐标,在
中填入最上边坐标的像素坐标和最下边的坐标,如
,输入后点击ENTER键完成输入。
6)完成所有坏点坏线输入后,点击
,等待保存完毕,点击Close,关闭界面。
6.4标尺校正
1)
启动TestDRControl程序,弹出如下主界面:
图4-15
注意:
在启动TestDRControl校正程序时,必须确认控制台程序DRControl.exe已关闭。
2)
点击
按钮,启动相机。
在提示栏会有列表加载过程。
启动完成后界面如下:
图4-16
3)将一个规则的四方铁块放在探测器平面,确认铁块紧贴在探测器表面,用钢尺量出铁块的长度并记录。
4)设置高压发生器的曝光参数为:
60kV,10mAs,将SID设为1M。
5)按下曝光手闸,等待获取图像。
6)选择“校正模板”菜单下的“标尺校正”选项,弹出标尺校正窗口,如下所示:
7)点击
图标,在图中找到第一步所量铁块长度的那条边,按下鼠标左键用箭头在铁块端面图像上拉出一条直线如图:
,用鼠标左键双击该直线,弹出如下对话框。
8)在空格内填入铝块的长度50,注意单位为毫米。
点击确定,保存并退出。
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