电感耦合等离子体发射光谱仪仪.docx
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电感耦合等离子体发射光谱仪仪.docx
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电感耦合等离子体发射光谱仪仪
东华大学分析测试中心
大型精密分析仪器简介
扫描电子显微镜—能谱仪(SEM-EDS)
仪器型号:
SEM:
JSM-5600LV;EDS:
IE300X
生产厂家:
SEM:
日本JEOL;EDS:
英国Oxford
主要配置:
SEM:
二次电子探测器,背散射电子探测器;EDS:
Si(Li)超薄窗;X射线探测器,全数字化脉冲处理器;喷金仪,喷碳仪。
主要技术指标:
●SEM:
高真空分辨率3.5nm,低真空分辨率4.5nm;
●SEM:
放大倍数范围18-300,000;
●EDS:
Mn的Kα处的分辨率优于132eV;可测元素范围4Be-92U。
主要用途:
Ø固体样品表面微区形貌观察;
Ø材料断口形貌及其内部结构分析;
Ø微粒或纤维形状观察及其尺寸分析;
Ø固体样品表面微区成分的定性和半定量分析。
透射电子显微镜(TEM)
仪器型号:
H-800
生产厂家:
日本Hitachi
主要配置:
SEM探测器,STEM探测器,真空镀膜仪,超薄切片机。
主要技术指标:
●分辨率:
可倾动角±25°时,晶格分辨0.204nm,点间距0.45nm;
●放大倍数:
电子图象:
1000~6×105(30档可调),选区图象:
1000~3×105(25档可调);
●加速电压:
200kV、175kV、150kV、100kV、75kV。
主要用途:
Ø分析金属材料的晶体缺陷、晶界、相界等微结构;
Ø分析高分子材料及其复合材料的形态结构;
Ø微粒形状观察及其尺寸分析;
Ø染色体、核糖体、蛋白质、血红蛋白、细菌等的形状观察。
扫描探针显微镜(SPM)
仪器型号:
NanoScopeⅣ
生产厂家:
美国Veeco
主要配置:
接触模式、轻敲模式;静电力模式、磁力模式、扫描隧道模式、摩擦力模式;配有液体样品池,可用于分析液体环境中的样品;加热台,控温范围:
室温~250℃。
主要技术指标:
●最大平面扫描范围:
125μm×125μm;
●最大垂直扫描范围:
2.5μm;
●最高水平分辨率:
0.1nm;
●最高垂直分辨率:
0.01nm。
主要用途:
Ø材料表面形貌、相组成分析;
Ø材料表面各种缺陷、污染情况分析;
Ø材料表面力性能研究;
Ø材料表面电、磁性能研究。
X射线衍射仪(XRD)
仪器型号:
D/Max-2550PC
生产厂家:
日本RIGAKU
主要配置:
铜靶,自动可变狭缝系统,全自动弯(平)晶石墨单色仪;纤维取向度测试附件,变温附件;JADE软件包(可用于物相定性分析,晶粒大小和晶胞畸变的测定,结晶度测定,点阵参数精密化等)。
主要技术指标:
●最大输出功率:
18kW;
●2角测量范围:
0.5~145;
●2角测量准确性:
0.01;
●测试温度范围:
室温~15000C。
主要用途:
Ø物相定性或定量分析;
Ø晶体结构的分析;
Ø结晶度测定(多峰分离法);
Ø晶粒取向度测定;
Ø材料物相随温度变化的研究。
高级旋转流变系统(ARES)
仪器型号:
ARES-RFS
生产厂家:
美国TA
主要配置:
各种规格的锥板夹具、平板夹具以及同心圆筒夹具,固体扭摆夹具;强制空气对流炉(室温~6000C),恒温水浴(-100C~700C);电流变附件,介电附件,熔体拉伸粘度附件;压片制样机,氮气发生器。
主要技术指标:
●震荡频率范围:
10-4-30Hz;
●应变振幅:
5μrad-500mrad;
●扭矩范围:
0.2μN.m-100mN.m;
●法向力测量范围:
0.01-20N。
主要用途:
Ø测定热塑性聚合物熔体的稳态和动态流变学参数;
Ø测定聚合物溶液以及其它低粘度流体的流变学参数;;
Ø测定电流变液的电流变性能;
Ø测定聚合物的介电性能。
静态/动态激光光散射仪(SLLS/DLLS)
仪器型号:
BI-200SM
生产厂家:
美国Brookhaven
主要配置:
50mW固体激光器(波长532nm),测角仪(测角范围:
80~1620),光电倍增管检测器,采用互相关技术的相关器;dn/dc值测定仪,外循环温控系统。
主要技术指标:
●聚合物重均分子量(Mw)测量范围:
500~108Daltons;
●胶体粒子水动力学直径(DH)测量范围:
1~5000nm;
●聚合物均方根旋转半径(Rg)测量范围:
10~1000nm;
●测量温度范围:
4~800C。
主要用途:
Ø测定胶束、胶体粒子的大小及其分布;
Ø测定聚合物重均分子量;
Ø研究聚合物溶液中分子链的构象及其与溶剂分子之间的相互作用;
Ø研究蛋白质、多糖分子的构象及其聚集过程。
凝胶渗透色谱-光散射联用仪(GPC-LS)
仪器型号:
BI-MwA
生产厂家:
GPC:
美国Waters,LS:
美国Brookhaven
主要配置:
高压梯度泵,手动进样器,Styragel系列色谱柱,多角度光散射仪,CCD检测器。
主要技术指标:
●流动相(四氢呋喃)流速范围:
0.001-10.000ml/mim;
●聚合物重均分子量(Mw)测量范围:
500~108Daltons;
●聚合物均方根旋转半径(Rg)测量范围:
10~1000nm;
●测量温度范围:
室温~500C。
主要用途:
测定能溶于四氢呋喃的聚合物的绝对分子量及其分布。
核磁共振波谱仪(NMR)
仪器型号:
Avance400
生产厂家:
瑞士Bruker
主要配置:
Φ5mm宽带多核探头,Φ5mm1H/13C反相探头,固体探头及其附件,PFGAccessory梯度场附件,变温附件。
主要技术指标:
●超导磁体:
9.4T,对1H共振频率为400MHz;
●多核探头(31P-15N,19F):
1H分辨率:
0.32Hz,1H灵敏度:
366∶1;
●反相探头(1H优化):
1H分辨率:
0.42Hz,1H灵敏度:
611∶1。
●固体宽带探头:
13C分辨率3.7Hz,13C灵敏度:
49∶1;
主要用途:
Ø有机化合物和天然产物分子结构分析;
Ø高分子链结构分析;
Ø研究高分子材料聚集态结构及其高分子链的运动行为;
Ø研究高分子链之间的相互作用以及共混高分子的相容性等。
傅里叶红外-拉曼光谱仪(FTIR-Raman)
仪器型号:
NEXUS-670
生产厂家:
美国Nicolet
主要配置:
衰减全反射光谱(ATR)附件,反射吸收光谱(RA)附件,变温附件( 温度范围:
室温~400℃),偏振附件;HummelPolymerandAdditives谱库。
主要技术指标:
●红外光谱频率范围:
7400~350cm-1;
●拉曼光谱频率范围:
3600~100cm-1;
●红外光谱最高分辨率:
0.09cm-1;
●拉曼光谱最高分辨率:
0.8cm-1。
主要用途:
Ø小分子化合物结构分析;
Ø高分子链结构分析;
Ø高分子材料聚集态结构的研究;
Ø分子之间相互作用的研究。
气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)
仪器型号:
QP-2010
生产厂家:
日本Shimadzu
主要配置:
裂解器,直接进样器,自动进样器,EI源,CI源,四极杆质量检测器;NIST谱库,聚合物热裂解谱库;固相微萃取装置。
主要技术指标:
●质量范围(m/z):
1.5~1024;
●分辨率:
2M;
●灵敏度(EI源,1pg八氟萘):
S/N≥60;
●裂解温度范围:
350-750℃。
主要用途:
Ø有机化合物结构分析;
Ø有机化合物成分分析;
Ø环境样品分析
Ø高分子链结构分析;
Ø高分子热降解机理研究。
紫外-可见光谱仪(UV-Vis)
仪器型号:
Lambda35
生产厂家:
美国PerkinElmer
主要配置:
Φ60mm积分球,60固定角反射附件,可变角透射附件,固体样品架,变温附件(温度范围:
0℃~100℃,控温精度:
±0.1℃)。
主要技术指标:
●波长范围:
190~1100nm;
●波长精度:
0.1nm;
●杂散光:
<0.01%T;
●线性范围:
3.5A。
主要用途:
Ø小分子化合物结构分析;
Ø小分子化合物成分分析;
Ø薄膜样品的透射分析;
Ø溶液、乳液或固体粉末样品的反射与透射分析。
电感耦合等离子体发射光谱仪(ICP)
仪器型号:
Prodigy
生产厂家:
美国Leeman
主要配置:
自激式高频发生器,高分辨中阶梯光栅,垂直和水平观测系统,CID固体检测器;微波消解系统。
主要技术指标:
●波长范围:
165-800nm;
●分辨率:
≤0.005nm(As在200nm处);
●精密度(RSD)(n=10):
<1.0%;
●检出限(典型元素As、Cd、Cu、Zn):
<0.01mg/L
主要用途:
可测定无机或有机样品中Cu、Pb、Cd、Cr、Ni、Zn、As、Fe、Bi、Ca、P、K、Mg、Al、Si、Sc、Sn、Mn、Zr、Ag、Sn、Sb、Ba等70多种金属和非金属元素的含量。
元素分析仪(EA)
仪器型号:
VarioEL
生产厂家:
德国Elmentar
主要配置:
高温燃烧炉,吸附-解吸装置,热导检测器,O元素分析模块;灵敏度为0.001mg的电子天平,自动进样器,液体样品装样器。
主要技术指标:
●分析模式包括:
CHNS,CHN,CNS,CN,N,S,O;
●样品量:
0.02-800mg;
●分析结果准确度(C、H、N、O、S):
≤0.3%(He作载气);
●分析结果精密度(C、H、N、O、S):
≤0.1%(He作载气)。
主要用途:
分析有机样品中的C、H、N、O、S元素的含量。
辉光放电光谱仪(GDS)
仪器型号:
JYProfiler
生产厂家:
法国JY
主要配置:
脉冲式RF辉光光源,离子刻蚀全息闪耀光栅,高动态范围检测器;磨片制样机;铸铁基体(灰口、白口、高Cr)工作曲线,钢基体(碳钢、低合金钢、不锈钢)工作曲线,镀层或涂层(WC、热处理、Cr-Ni合金镀层、镀铝、彩涂)工作曲线。
主要技术指标:
●光谱范围:
110nm—620nm;
●光谱分辨率:
0.02nm;
●深度分辨率:
≤2nm;
●可分析的元素:
C、Cr、Mn、Si、Mo、Fe、B、S、P、Ni、Ti、W、Co、V、Al、H、O、N、Cl、Cu、Pb、Sn、Mg。
主要用途:
Ø导电材料和非导电材料的基体、镀层(涂层)中的化学元素含量分析;
Ø热处理工件(渗碳、渗氮)等的元素深度定量分析;
Ø导电材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层(涂层)中化学元素的分析;
Ø非导体材料表面覆盖有一层或多层导电或不导电镀层(涂层)中化学元素的分析。
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- 关 键 词:
- 电感 耦合 等离子体 发射 光谱仪