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4、按照《压力容器安全技术监察规程》规定:
要求全部(100%)无损检测的压力容器,其对接接头既可采作射线检测,也可采用超声检测,而用另一种方法复验。
5、《压力容器安全技术监察规程》规定:
拼接补强圈对接接头必须进行100%射线或超声检测,其合格级别与容器壳体相应的对接接头一致。
6、按GB150规定,直径≮250㎜的接管和长颈法兰的对接接头需进行100%射线或超声波检测,合格级别为射线Ⅱ级,超声Ⅰ级。
7、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》适用于锅炉、压力容器和压力管道。
8、《承压设备无损检测》JB/T4730.1-2005规定,射线检测不适用于锻件、管材、棒材的检测,但T型接头、角焊缝以及堆焊层可采用射线检测。
9、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,采用γ射线进行射线检测,必须采用T2类或更高类别的胶片。
10、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,黑度计用黑度片至少应每2年送计量部门检定一次。
11、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,碳钢象质计适用于不锈钢.()
12、承压设备对接焊接接头的制造、安装、在用检测时的射线检测,一般应采用AB级技术进行检测。
13、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,当检测的某些条件不能满足AB级技术的要求时,只要经检测方技术负责人批准,便可采用A级技术进行射线检测。
14、按照GB16375的规定,现场进行X射线检测时,射线检测人员应在控制区外进行操作。
15、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,在单壁透照不能实施时才允许采用双壁透照方式。
16、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》把D0 <100mm的管子定义为小径管。
17、小径管环向对接接头100%检测的透照次数与透照方式、管径和壁厚有关。
18、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,采用中心透照方式时,只要得到的底片质量符合要求,f值可以减小,但减小值不应超过规定值的20%。
19、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,X射线照相,当焦距为700mm时,曝光量的推荐值为:
A级和AB级不小于15mA·
min;
B级不小于20mA·
min。
20、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,射线设备更换重要部件或经较大修理后应及时对曝光曲线进行校验或重新制作。
21、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,为检查背散射,应在每张胶片的暗盒背面贴一铅字“B”进行验证。
22、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,小径管透照,像质计可放置在源侧,也可放置在胶片侧。
23、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,像质计放置在胶片侧时应进行对比试验。
24、射线检测时,搭接标记插在胶片袋上是最简便易行的方法。
25、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,底片评定范围的宽度一般为焊缝本身及焊缝两侧5mm宽的区域。
26、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,焊缝射线检测时,AB级最低黑度允许降至1.5;
B级最低黑度可降至2.0。
27、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,评定范围内的黑度D>4.0的底片均为不合格底片,不允许进行评定。
28、按照JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,对致密性要承高的焊接接头,制造方底片评定人员应考虑将焊接接头中黑度大的圆形缺陷评定为深孔缺陷。
29、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定的管子和压力管道环形对接接头中的缺陷包括根部内凹和根部咬边。
30、JB/T4730.2-2005《承压设备无损检测》规定,对于管子和压力管道环形对接接头,当条形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时,应进行综合评级。
对各类缺陷分别评定级别,各级别之和减一作为综合评级的级别。
二、选择题(每题1.5分,共30分)
1、按《特种设备无损检测人员考核与监督管理规则》规定:
中专和高中学历Ⅰ级人员报考Ⅱ级,持Ⅰ级证工作的最短时间要求是:
A.1年B.3年C.4年D.6年
2、《压力容器安全技术监察规程》规定:
对局部射线检测的焊接接头若在检测部位发现超标缺陷时进行补充检测的具体要求是()。
A.补充检测长度不应少于250mm
B.补充检测长度不应少于该焊接接头长度的10%
C.补充检测仍不合格,则应对该条焊接接头全部检测
D.B和C
3、按照《压力容器安全技术监察规程》规定,公称直径<250㎜,其壁厚>28㎜的接管环焊缝,其探伤方法为():
A、射线检测B、表面无损检测
C、超声波检测D、A或C
4、φ219分汽缸局部探伤,采用双壁单影法透照环焊缝,经计算一次透照长度为100㎜,每条环缝应透照()次:
A、1B、2C、3D、4
5、一局部探伤的焊缝,透照一张底片,发现焊缝中有断续未焊透缺陷,其扩探方法为():
A、在缺陷左端加拍一张;
B、在缺陷右端加拍一张;
C、在缺陷两端各加拍一张;
D、在焊缝上任意部位加拍一张。
6、按照GB150-98标准规定,压力容器人孔高颈法兰与接管的环焊缝,其探伤比例与合格标准为():
A、100%探伤II级合格;
B、100%探伤,合格级别与壳体相同;
C、20%探伤III级合格;
D、以上都不对。
7、JB/T4730.2-2005标准规定,AB级照相时,源到工件表面距离f应酬满
足的要求是:
A、
B、
C、
8、按照相机JB/T4730-2005标准的规定,一次曝光连读排列三张胶片时,
应使用()个像质计。
A、1B、2C、3
9、按照JB/T4730-2005标准规定,φ133管环焊缝射线照相应采用:
A、单壁单影法;
B、双壁单影法;
C、双壁双影法;
D、A或B。
10、JB/T4730.2-2005标准对AB级照相透照厚度比K的规定是:
纵缝≤
(),环缝≤()。
A、1.01B、1.03C、1.06D、1.1
11、按照JB/T4730.2-2005标准规定,φ76×
10mm钢管环焊缝透照次数为:
A、1B、2C、3D、4次
12、JB/T4730.2-2005规定,AB级射线照相允许的底片黑度范围是:
A、1.8~3.5B、1.2~3.5
C、2.0~4.0D、1.0~3.5
13、按照JB/T4730.2-2005标准规定,AB射线照相,当采用的焦距为350mm
时,最小曝光量应为:
A、15mA·
minB、3.75mA·
min
C、45mA·
minD、60mA·
14、按照JB/T4730.2-2005标准规定,使用Ir192源能透照的小径管壁厚
最小可达到:
A、5mmB、10mmC、2.5mmD、15mm
15、按照JB/T4730.2-2005标准规定,当底片评定范围内的黑度为4.0时,
透过底片评定范围内的亮度应不低于10cd/m2,观片灯的亮度应不低于
()。
A、2000cd/m2B、100000cd/m2C、300000cd/m2
16、JB/T4730.2-2005标准规定,采用源在内单壁透照方式时,源到工件表面距离f可以减小,但不得超过规定值的()
A、50%B、40%C、30%D、20%
17、母材厚度为12㎜的对接焊缝,底片焊缝中发现两相邻的条状夹渣,长分别为3㎜和6㎜,间距3㎜,按JB/T4730.2—2005评定为():
A、I级B、II级C、III级D、Ⅳ级
18、JB/T4730.2-2005标准规定,铝制承压设备管子熔化焊环形对接接头中的缺陷共分为()类:
A、5B、6C、7D、8
19、管外径Do>100mm的管子环向对接接头不加垫板单面焊未焊透深度可采用()进行测定。
A、一般对比试块(Ⅱ型)
B、小径管专用对比试块(ⅠA或ⅠB型)C、线型象质计
20、JB/T4730.2-2005标准规定,小径管环向对接接头透照采用专用型像质计(等径金属丝)时,至少应能识别()根金属丝。
A、1B、2C、3D、4
三、综合题(共40分)
1、按照JB/T4730.2-2005《射线检测》的规定,对承压设备管子及压力管道环形对接焊接接头的不加垫板的单面焊未焊透、根部咬边和根部内凹如何进行测定?
(10分)
2、JB/T4730.2-2005标准将射线检测技术分为A级、AB级和B级。
列表说明三个技术级别的技术要求存在哪些差别?
(15分)
序号
存在差别的项目
技术要求
A级
AB级
B级
1
胶片系统
2
增感屏材料和厚度
3
K值
纵向焊接接头
环向焊接接头
4
γ射线和高能X射线
允许的透照厚度范围
5
射源到工件表面
最小距离fmin
6
推荐的最小曝光量Emin(f=700mm)
7
底片黑度D
8
像质计灵敏度值
3、用Se75源透照φ89×
6mm、材质为15CrMo的压力容器管子环向对接接头,焊缝宽度g=15mm。
按JB/T4730.2-2005标准规定填写下表。
项目
胶片类型
透照方法
成像方式
透照次数
象质计类型
象质计材质和代号
象质计位置
9
10
答案
一、1X2O3O4X5O6X7O8X
9X10O11O12O13X14O15O
16X17O18X19O20O21X22O23X
24X25O26X27X28O29O30X
二、1A2D3D4C5C6B7B
8C9D10BD11C12C13B14A
15B16D17D18B19A20B
三、1、答:
JB/T4730.2-2005《射线检测》的规定,管外径大于100mm时,不加垫板单面焊未焊透、根部内凹和根部咬边的深度可采用附录H规定的一般对比试块(Ⅱ型)进行测定。
测定时,对比试块应置于管的源侧表面,靠近缺陷附近的部位。
2、答:
技术要求的差别见下表:
要求不同的项目
技术要求差别
T3或更高
T2或更高
γ射线和高能X射线所用象质计材料和厚度不同
≤1.03
≤1.01
≤1.1
≤1.2(100mm<D0≤400mm)
≤1.06
透照厚度范围
各级别允许的透照厚度范围不同
fmin
≥7.5d·
b2/3
≥10d·
≥15d·
Emin(f=700mm)
≮15mA·
≮20mA·
1.5≤D≤4.0
2.0≤D≤4.0
2.3≤D≤4.0
表5—表7
3、答:
T2类或更高类别
双壁双影倾斜透照
椭圆成像
前屏铅0.1-0.2mm
后屏铅0.1-0.2mm
通用型或专用型
象质计材质和低号
碳钢或奥氏体不锈钢Fe
源侧或胶片侧
1.5-4.0
14(源侧)14(胶片侧)
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