第2篇X射线衍射技术222.docx
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第2篇X射线衍射技术222
参考书:
1.刘粤惠,刘平安编著.X射线衍射分析原理与应用[M].北京:
化学工业出版社,2003年月10月第1版。
2.周玉,武高辉编著.材料分析测试技术——材料X射线衍射与电子显微分析[M].哈而滨:
哈尔滨工业大学出版社,2007年8月第2版。
第2篇X射线衍射技术基础
第一部分X射线
§2.1X射线衍射分析技术发展及应用现状
§2.1.1发展历程
1895年11月8日,德国维尔茨堡(Wurzburg)大学物理研究所所长威廉•伦琴教授(1845-1923)在研究阴极放射线引起荧光现象时,首次观察到一种奇特的辐射线,该射线可使涂有氰亚铂酸钡的荧光屏发出荧光,也使黑纸包着的底片感光,能穿透手指骨骼等物质。
他意识到这种现象是由阴极射线管产生的某种迄今未知的新辐射线引起的新射线,于是用数学上表示未知数的字母X来称呼它,取名为X射线,后人也称为伦琴射线。
1895年12月28日,伦琴将其发现作为第一次报导。
随后他深入研究了X射线的产生、传播、穿透力等性质,使他在1901年成为第一位诺贝尔物理学奖获得者。
人类在利用某种自然现象的时候,未必是先了解这个现象的本质然后再去利用的。
X射线发现仅半年就被医学界用来进行骨折诊断和定位了,随后又用于检查铸件中的缺陷和探伤,从而创造了X射线透视技术(radiography)。
1909年,巴克拉(Barkla)利用X射线,发现X射线与产生X射线的物质(靶)的原子序数(Z)有关,由此发现了标识X射线,并认为此X射线是原子内层电子跃迁产生。
1908-1909年,德国物理学家Walte.Pohl,将X射线照金属(相当于光栅),产生了干涉条纹。
1910年,厄瓦尔德(Ewald)发现新散射现象,劳埃由此得出:
散射间距(即原子间距)近似于1A数量级。
1912年,德国慕尼黑大学物理学家劳厄(M.V.Laue)成功地完成了晶体的X射线衍射实验,获得第一张X射线衍射照片。
劳厄的工作奠定了X射线衍射结构分析的基础。
随后,为解释衍射图象,劳埃提出了劳埃方程;因此他在1914年获得诺贝尔物理学奖。
1913年,布拉格父子导出了简单实用的布拉格方程;随后,厄瓦尔德(Edwald)把衍射变成了图解的形式:
厄瓦尔德图解.
1913-1914年,莫塞莱定律的发现,并最终发展成为X射线光谱分析及X射线荧光分析。
1916年,德拜(Debye)谢乐(Scherrer)发明了“粉未照相法”。
1938年,哈那瓦尔特(Hanawalt)建立了系统的X射线物相定性分析方法。
1941年美国材料实验协会(ASTM)将衍射线资料编印成索引及标准卡片,并逐年进行补充,完成粉未衍射卡数据收集与发行的初期阶段工作。
20世纪60年代开始,衍射仪法和计算机技术相结合,实现收集衍射实验数据的自动化,研制和发展了物相鉴定、结构测定等方面的计算机程序。
目前,X射线衍射理论已基本完善,是一门相当成熟的学科,而X射线衍射技术仍在不断发展,近年来,发展尤为显著,其主要方面和原因有:
(1)新光源的发明:
转靶、同步辐射、X射线激光、X射线脉冲源,高效率、强光源,使测量精度提高4个数量级。
(2)新的探测器:
由气体探测器到固体探测器,高分辨率、高灵敏度,使测量提高2个数量级。
(3)新的数据记录及处理技术:
高度计算机化。
a.实验设备、实验数据全自动化;
b.数据分析计算程序化;
c.衍射花样的计算机模拟。
§2.1.2应用现状
X射线发展至今,已形成了三种完整的应用技术,它们分别是:
X射线形貌技术(Radiography);
X射线光谱技术(X-RaySpectrum);
X射线衍射技术(X-RayDiffraction,简称XRD)。
X射线形貌技术也称X射线照相术,是利用物质对X射线透过吸收能力的差异分析物质中异物形态,主要用于医学上进行人体X光透视和工程技术上进行X射线探伤。
X射线光谱技术利用物质中元素被X射线激发所产生次生X射线谱(也称X射线荧光)的波长和强度分析物质的化学组成。
X射线光谱技术也称X射线荧光分析,即利用适当能量和X射线照射不同元素组成的样品时,每种元素发射的次生X射线(荧光X射线)的频率与元素原子的原子序数成正比,通过晶体衍射分光测定特征荧光X射线的波长和强度,从而可进行元素的定性和定量分析。
X射线衍射技术利用X射线在晶体、非晶体中衍射与散射效应,进行物相的定性和定量分析、结构类型和缺陷分析的技术。
X射线衍射技术是目前应用最广的一项技术。
随着科学技术的发展,X射线衍射仪及配套的一系列分析设备得到不断改进和完善,促使X射线分析技术的新理论、新技术不断涌现。
在原来X射线技术的基础上又形成了四种新技术,分别是:
扩展X射线吸收精细结构分析技术(ExtendedX-RayAbsorptionFineStructure,EXAFS);
X射线漫散射及广角非相干的小角相干、非相干散射技术;
X射线光电子能谱分析技术(XPS);
X射线衍射貌相技术(X-RayDiffractionTopography)。
在众多的X射线分析方法中,作为常规的分析测试手段,使用最多的和最广泛的是X射线衍射技术,而X射线衍射技术中应用最多的方法就是物相分析。
X射线物相分析方法是研究同质多相唯一有效的方法。
如鸡卵壳和贝壳的化学组成相同,只有通过X射线衍射技术才能区分二者分别由方解石和文石两种矿物构成。
X射线衍射技术可以测定材料的结构、晶格畸变、晶粒大小、晶体取向、晶体织构、晶体内应力、结晶度,还可以进行固熔体分析、相变研究、电畴或磁畴结构分析等方面的工作。
X射线物衍射物相分析方法在材料科学领域得到广泛的应用,成为材料科学研究必不可少的基本表征方法之一。
X射线分析在材料领域中的主要应用
物相分析;点阵常数的精确测定; 织构的测定; 此外还有:
晶粒大小的测定,应力测定等等。
§2.2X射线的产生及性质
§2.2.1X射线的产生
1.X射线管
高速运动的电子突然受阻时,由于与物质的能量交换作用,从而产生X射线。
在X射线衍射仪中,产生X射线的装置称为X射线管。
图1X射线管构造示意图
X射线管的管壁用玻璃或透明陶瓷制成,管内为高真空以减少电子运动的阻力。
X射线管主要由以下三部分组成:
(1)阴极阴极的功能是发射电子。
由钨灯丝制成,在通以一定的电流加热后便能产生热辐射电子。
(2)阳极阳极又称之为靶,是电子突然减速并发射X射线的地方。
阴极灯丝产生大量热电子经聚焦加速后撞击阳极金属靶(由Cu、Mo、Ni等熔点高而导热性好的金属制成),由于电子的猝然减速或停止运动,使大部分能量(大约99%)以热辐射的形式耗散掉,少部分能量则以X射线的形式向外辐射并产生X射线谱。
为避免靶材长时间受热熔化,必须加循环冷却水使靶面迅速冷却。
(3)窗口由于X射线在与靶材成6º角处强度最大,所以按此角度在X射线管上开一个窗口。
窗口材料由对X射线吸收很小的薄铍片(约0.2mm厚)制成,或由硼酸铍锂组成的林德曼玻璃制成,以便让X射线透过。
特殊结构的X射线管
⑴旋转阳极X射线管:
采用适当的方法使阳极高速旋转,这样,可使靶面受电子轰击的部位——焦斑随进改变,有利于散热,可以提高X射线管的额定功率几倍到几十倍。
⑵细聚焦X射线管:
在X射线管阴阳极之间,添加一套静电透镜或电磁透镜,使阴极发射的电子束聚焦在阳极上,焦斑只有几个微米到几十微米。
虽然电子束流减小,但因焦斑小,单位焦斑面积发射的X射线强度增加。
这种X射线管,除了可以缩短拍摄照片得到极细的X射线束,有利于提高结构分析的精度。
2.X射线性质
X射线是一种具有较短波长的高能电磁波,由原子内层轨道中的电子跃迁或高能电子减速所产生。
X射线波长范围为0.01~100Å,介于紫外线与γ射线之间,并与γ射线有部分重叠。
图2电磁波谱示意图
X射线与可见光相比,具有如下特点:
(1)穿透力强X光可以穿透可见光不能穿透的物质,如生物软组织、木板、玻璃、金属板(重金属除外)。
X射线还能使空气电离。
X射线波长范围很大,波长越短,光量子能量越大,穿透力越强。
通常将波长短的X射线称为硬X射线,波长较长的X射线称为软X射线。
此处的“软、硬”是指X射线穿透能力的强弱。
由于X射线的穿透力强,所以X射线可用于医学透视和金属材料探伤。
X射线的波长范围:
100-0.01Å或10-0.001nm。
硬X射线:
0.01-2.5Å,其中
0.5-2.5Å 主要用于晶体结构分析;
0.05-1Å 主要用于金属探伤等。
软X射线:
10-100Å 主要用于医学透视。
(2)折射率等于1X射线穿过不同媒质时几乎不折射、不反射(反射率和折射率很小,可忽略不计),仍可视为直线传播,所以X射线不可能利用折射聚焦。
(3)通过晶体时发生衍射因晶体面间距与X射线波长数量级相当,故X射线通过晶体时,晶体可被视为三维光栅,从而产生衍射现象,因而可利用X射线衍射研究晶体的内部结构。
(4)X射线对生物细胞和组织有较强的杀伤力因此在使用X射线装置时要重视X射线防护。
§2.2.2X射线谱
X射线是高速运动的电子撞击靶材突然减速时产生的。
我们对X射线管施加不同的电压,再用适当的方法测量由X射线管发出的X射线的波长和强度,便会得到X射线波长与强度的关系曲线,称之为X射线谱。
由X射线管发出的X射线包含两部分,一部分是具有连续波长的X射线,称为连续谱或“白色”谱;另一部分是由阳极金属材料成分决定的波长确定的特征X射线,称为特征谱。
当X射线管外加电压足够高(超过靶材的激发电压)时,各靶材产生的X射线谱都由这两部分组成。
1.连续谱
连续谱是从某个最短波长(λmin)开始,强度随波长连续变化的线谱。
产生连续谱的机理是:
当高速运动的电子击靶时,电子穿过靶材原子核附近的强电场时被减速,电子动能减少。
电子所减小的能量(ΔE)以X射线的形式发出。
X射线的频率ν与ΔE之间的关系为hν=ΔE,这种过程是一种量子过程。
由阴极发出的电子数目极多,假设管电流为10mA,则可以计算,每秒到达阳极靶上的电子数可达6.25×1016个。
由于击靶时间不同、穿透的深浅不同、损失的动能不等,并且绝大多数到达阳极靶上的电子要经过多次碰撞,逐步把能量释放为零,因此当电子动能能转换为X射线光子的能量有多有少,产生的X射线的频率也有高有低,从而形成了一系列不同频率、不同波长的X射线,构成了连续谱。
一般情况下,光子的能量只能小于或等于电子的能量。
在极限情况下,若电子将其能量全部转换为一个光子的能量,则此光子的能量最大、波长最短、频率最高,因此连续谱有一个下限波长(λ0),称之为短波限。
图电压与连续谱之间的关系
eU=hν=(hc)/λ0,其中
e=1.602×1019C;
h=6.626×10-34J·s;
c=2.998×108m/s。
连续谱的短波限只与管电压有关。
当固定管电压,增加管电流或改变靶材时λ0不变;当增加管电压时,电子动能增加,电子与靶的碰撞次数和辐射出来的X射线光量子的能量都增高,各曲线对应的最大值和短波限都向短波方向移动。
连续X射线谱的最大值在大约1.5λ0的位置。
连续X射线谱只有在X射线衍射的劳厄照相法中才用到,在其它方法中均用单色X射线作为光源,连续谱的存在只能造成不希望有的背景,通常用滤波片或晶体单色器将其去除。
图3X射线连续谱与持征谱(P7图1.5)
2.特征谱
特征X射线谱是波长一定而强度很大的X射线谱。
特征谱的产生与靶材中原子结构与原子内层电子跃迁过程有关。
当高速运动的电子击靶时,具有高能量的电子深入到靶材的原子中,激发出原子内层电子,而使原子处于不稳定的激发状态,为使原子恢复至稳定的低能态,邻近层的电子立即自发的填其空穴,同时伴随多余能量释放,产生波长确定的X射线,X射线的频率和能量由电子跃迁前后电子能级决定,即
hν=E2-E1
可见,特征X射线的波长与靶材有关,改变工作条件(如管电压、管电流)只能改变其强度,而不能改变其波长。
由特征X射线构成的X射线谱称为特征X射线谱,产生特征X射线的最低电压称为临界激发电压。
为什么存在临界激发电压?
这是因为阴极射来的电子欲击靶材的原子内层电子,如K层电子,阴极射来的电子动能必须大于K层电子与原子核的结合能EK,或K层电子的逸出功WK,即必须满足:
eU≥-EK=WK
在临界条件下,eUK=-EK=WK,其中UK便是X射管临界电压。
由于越靠近原子核的内层电子与核的结合能越大,所以击出同一原子的K、L、M等不同壳层上的电子就需要不同的临界激发电压,越接近内层的临界激发电压越高。
此外,阳极靶物质的原子序数越大,所需临界激发电压值也越高。
3.特征X射线命名规则
(1)某层电子被激发,称为某系激发。
如K层电子被激发,称为K系激发;
(2)某受激层电子空穴被外层电子填充后所产生的X射线辐射,称某系辐射或某系谱线或某线系。
如外层电子填K层的空穴后产生的特征X射线,称为K系辐射,或K系辐射,或K线系。
(3)当电子填空穴前处于临近层、次临近等电子层,则在对应谱线名称右下方标出α、β、γ等符号。
如L、M层电子跃迁至K层,分别称为Kα、Kβ系线。
(4)当电子填空穴前处于某电子层的各亚电子层,则在该谱线名称的下方再标上数字。
如L层有两个电子亚层,则电子从L1、L2亚层跃至K能级,对应产生Kα1、Kα2谱线。
如图2所示。
图4特征X射线产生示意图
实际上,X射线物相分析及结构分析主要用Kα作为单色X射线源,其它谱线均为不希望有的干扰因素,需要将它们除去。
由于L层电子跃至K层的概率比其它层电子跃至K层的概率大,即单位时间辐射出的Kα光子数较多,故Kα强度最大。
同一壳层中还有精细结构,其能量差固定,所以同一壳层的电子并不处于同一能量状态,而分属于若干个亚层。
如L层中8个电子分属LⅠ、LⅡ和LⅢ三个亚能级。
不同亚能级上的电子跃迁会引起特征波长的微小差别。
实验证明,LⅠ电子不发生跃迁。
分别将LⅢ和LⅡ电子向K层跃迁时辐射出的两根谱级称为Kα1和Kα2。
在K系中Kα1、Kα2、Kβ强度比为100:
50:
22。
因Kα1、Kα2波长值和能量值相差很小,在分辨率较低的情况下,它们是不可分辨的,故通常将这两线统称为Kα线,Kα线的波长是Kα1、Kα2加权平均值,即
对于Cu靶X射线,
=1.54059Å,
=1.54442Å,
=1.54187Å。
特征X射线波长与靶材原子序数Z的关系可由莫塞莱定律描述,即
式中K、S为常数。
由莫塞莱定律可知,特征X射线波长与原子序数成反比,即随着原子序数的增加,产生的K线系波长变短。
由于从V(Z=23),至Ag(Z=47)在K线系的波长均落在物相分析及结构分析所用的X射线波长范围(0.5~2.5Å)内,所以它们均适合作物相分析所用的Kα光源靶材,而最常用的靶材是Cu。
由特征谱产生机理可知,只有当击靶的电子获得足够的能量才能激发出原子的内层电子。
这个X射线管产生特征X射线所必须的最低电压称为临界激发电压。
由于越靠近原子核的电子与核的结合力越大,因此激发K系射线所需的电压比激发L系要高。
原子序数越大,核对K层电子的结合力越大,所需的激发电压也就越高。
为了获得较高的特征X射线强度,又要考虑避免其它谱线的干扰,最适宜的工作电压为激发电压的3~5倍。
Cu的激发电压为8.9kV,故Cu靶的工作电压以30~40kV为宜。
§2.2.3X射线的吸收和散射
1.X射线的吸收
X射线照射到物质上时被物质吸收而使其强度显著减弱,并遵循一定的规律。
当X射线通过1cm厚的物质时被吸收的比率,称为线吸收系数(μ),则透射线强度(I)与入射线强度(I0)及所透过物质层厚度(x)的关系为
若物质的密度为
,则上式可改写为
,或
式中I0——入射线强度;
I——透射线强度;
ρ——吸收物质的密度,g·cm-3;
x——吸收物质的厚度,cm;
μ——元素线吸收系数;
μm——元素质量吸收系数,cm2·g-1,μm=μ∕ρ;
I∕I0——透过系数或透过因子。
可见X射线透射线强度是按指数规律迅速递减。
μm对一定波长和一定物质来说,是与物质密度无关的常数,它不随物质的物理状态(气态、液态、粉末或块状的固态、机械混合态、化合物或固熔体等)而改变。
对于复杂物质(如固熔体、化合物等)的μm值计算,可近似取组成该物质的各元素质量吸收系数与其质量分数乘积之和。
设一复杂物质的第i种元素的质量分数为wi,则该复杂物质的质量吸收系数为
元素的质量吸收系数与入射X射线波长及吸收物质原子序数有关。
对于某一吸收物质,随着X射线波长增大,质量吸收系数增大。
质量吸收系数发生突变的波长称为吸收限,如图3所示。
所有元素的μm-λ关系曲线相似,只是吸收限的位置不同而已。
吸收限是吸收元素的特征量,不随实验条件改变而改变。
当入射X射线波长一定时,如果不考虑吸收限,则一般随吸收物质原子序数增加,吸收系数增大,即重金属原子序数越大,对X射线吸收系数越大,X射线越难穿过。
从们只所以用铅板、铅玻璃作为屏蔽X射线的材料就是基于这一点。
二次特征辐射当入射X射线光量子的能量足够大时,可以从被照射物质的内部(如K层)击出一个电子,同时原子外层的高能态电子要向内层K空位跃迁,辐射出波长一定的特征X射线。
为了与入射X射线相区别,将由X射线激发所产生的特征X射线称为二次特征X射线,或荧光X射线。
这种以光子激发原子所发生的激发和辐射过程称为光电效应,被击出的电子称为光电子。
一次特征X射线的一部分能量转化为所照射物质的二次征征辐射,体现出物质对X射线的吸收。
物质K系荧光辐射,入射X射线光子需满足一定的能量条件,即:
eU=hν=h(c/λ)≥WK,λ≤(hc)/(eU)=λK
只有当λ≤λK时才能产生K系荧辐射。
在讨论光电效应产生的条件时,λK叫做K系激发限;若讨论X射线被物质吸收时,又把λK叫做吸收限。
当波长刚好λ≤λK时,发生物质对波长为λK的X射线的强烈吸收,而且正好在λ=λK时吸收最为严重,形成所谓的吸收边。
俄歇效应当原子内层电子,如K层电子被激发后,能量释放会产生两种效应:
一种是产生K系辐射;另一种是被K层邻近电子或较外层的L层电子所吸收,促使该电子变为二次电子,使该电子具有特征能量。
这种具有特征能量的电子是俄歇(M.P.Auger)于1925年发现的,故称为俄歇电子。
滤波片的选择物质对X射线吸收的一个重要应用就是滤波片的选择。
如果一种金属的K吸收限波长正好介于X射线管发出的Kβ和Kα两射线的波长之间,则这种金属会大量吸收Kβ射线及大部分连续的X射线,而对于Kα吸收很小,这种金属可以作为滤波片。
对于Cu靶来说,Kα=0.15418nm,Kβ=0.13922nm,而Ni的λK=0.4869nm。
因此,当选用铜作为靶材时,常用Ni滤波片,。
图5金属的μm-λ关系曲线
图滤波示意图
物质对X射线的吸收,不仅用于滤波片的选择,而且还用X射线靶材的选择。
在晶体X射线衍射线分析中,总希望样品对X射线的吸收尽可能少些。
这是因为若样品对X射线强烈地吸收,将大大地减弱衍射线的强度,而且这种吸收激发的荧光辐射使背底加强,甚至还可能遮盖了较弱的衍射线,使衍射图模糊而不利于分析。
所以在X射线结构分析中,为了减少荧光辐射的影响,应选择合适的X射线的波长,即选好靶材。
靶材选择规则是:
使靶发射的Kα线波长尽可能远离样品中主要元素K系吸收限。
通常靶选用比试样高一个原子序数,或采用与试样中主要元素相同的靶材元素。
如试样的主要元素为Cr(λk=0.207nm),就不能用Fe的Kα辐射(λk=0.1937Å),因为Fe的Kα辐射波长稍短于Cr的K吸收限,故会发出强烈的荧光,但可以用Cr的Kα辐射,因为某元素的辐射不会激发它本身的荧光。
同理,Cu的Kα辐射不适合研究Co的化合物和Fe的化合物。
表1几种元素的K系辐射波长及常用的滤波片
阳极
Z
Kα
Kβ
滤波片
材料
Z
λK
厚度*/mm
I/I0
Cr
24
0.22909
0.20848
V
23
0.2269
0.016
0.5
Fe
26
0.19373
0.17565
Mn
25
0.18694
0.016
0.46
Co
27
0.17902
0.16207
Fe
26
0.17429
0.018
0.44
Ni
28
0.16591
0.15001
Co
27
0.16072
0.013
0.53
Cu
29
0.15418
0.13922
Ni
28
0.14869
0.021
0.4
Mo
42
0.07107
0.06323
Zr
40
0.06888
0.108
0.31
Ag
47
0.05609
0.0497
Rh
45
0.05338
0.079
0.29
*滤波后I(Kα)/I(Kβ)=1/600
靶材与滤波片满足如下规律:
当Z靶<40时,Z片=Z靶-1;
当Z靶≥40时,Z片=Z靶-2。
阳极靶的选择
在X射线衍射实验中,若入射X射线在试样上产生荧光X射线,则只增加衍射花样的背底强度,对衍射分析不利。
针对试样的原子序数,可以调整靶材的种类避免在试样上产生荧光辐射。
若试样的K系吸收系数为λK,应选择靶Kα的稍大于λK,并尽量靠近λK。
这样不产生K系荧光,而且吸收又最小。
一般应满中如下经验公式:
Z靶≤Z试样+1
2.X射线的散射
当X射线穿过物质时,物质的原子可能使X射线光子偏离原射线方向,即发生散射。
X射线的散射现象可以分为相干散射和非相干散射两类。
相干散射当入射线光子与原子中束缚较紧的电子发生弹性碰撞时,X射线光子的能量不足以使电子摆脱束缚,电子的散射线波长与入射线波长相同,有确定的位相关系。
这种散射称为相干散射或汤姆逊(Thomson)散射。
相干散射波之间相互干涉,就可获得衍射。
因此相干散射是X射线衍射的基础。
非相干散射当入射X射线光子与原子中束缚较弱的电子(如外层电子)发生非弹性碰撞时,X射线光子消耗一部分能量,于是电子被撞出原子之外,同时发出波长较长、能量较低的非相干散射或康普顿(Compton)散射。
清华大学吴有训教授在二十年代初期就在美国与Compton合作,从事X射线非弹性散射研究,进行了大量卓越实验工作。
因此康普顿(Compton)散射也称为康普顿-吴有训散射效应。
(X射线衍射学进展,许顺生主编,科学出版社1986:
26)因非相干散射分布在各个方向上,波长变长,相位与入射线之间也没有固定关系,故不产生相互干涉,也就不能产生衍射,只会成为衍射谱的背底,给衍射工作带来干扰和不利的影响。
§2.2.4X射线的防护
人体过量接受X射线照射会引起细胞损伤和局部组织损伤、坏死或导致其它疾病,如人的精神衰退、头晕、毛发脱落、血液组织以及影响生育等。
X射线对人体的影响取决于X射线的强度、波长和人体的接受部位。
根据国际放射学会规定,健康人的安全剂量为每工作周不超过0.77×104C/kg。
虽然X射线会对人体造成伤害,但只要操作者严格遵守操作规程,注意采取安全防护措施,意外事故是可以避免的。
使用X射线衍射仪时,必须接受X射线安全培训,培训合格后方能独立进行衍射仪操作。
学生进行衍射仪实验时,必须在指导教师指导下进行,并严格按操作规程操作。
第二部分晶体学相关知识
§2.3晶体学基础
§2.3.1晶体和非晶体
1.晶体的定义
∙晶体是原子或
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- 第2篇 X射线衍射技术222 射线 衍射 技术 222