TK168D列印操作手册.docx
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TK168D列印操作手册
訓練手冊
TK-168D
TRR-168
VC-168-1.5KE(舊機型)
一、測試機功能
1、TK-168D是一部高速、高功能的VF、VR、SURGE及IRTESTER,以按鍵輸入方式及清晰液晶(LCD)顯示方式,使達到操作容易且測試條件設定及測試讀值顯示清楚,可廣泛應用於任何的不同機型之二極體自動化測試設備。
2、特點
Ø高解析度、高精密度、高效率。
Ø維護容易(內部標準電阻可以測試VF、VR及IR測試)。
Ø校正容易,校正程序已建立於此系統內。
3、測試規格
1.IF:
共有4檔(1.00mA~49.99A)±0.5%±1digital
2.IB:
共有4檔(5.0uA~99.99mA)±1%±1digital,PULSEWIDTH:
10mS~200mS
3.VR:
共有3檔(40~1999V、0.0~400.0V、0.00~99.99V)
40~1999V±1%±2digital
0.0~400.0V±0.5%±2digital
0.00~99.99V±0.5%±2digital
ΔV1:
∣VR1-VR2∣、ΔV2:
∣VR1-VR3∣
4.VR(S)→IB:
0.100mA~9.999mA(open:
2000V)
5.IR:
共有4檔(0.010uA~9.999mA)
VRBIAS:
40V~1999V±1%±2digital
4.0V~400.0V±1%±2digital
1.00V~99.99V±0.5%±2digital
6.分類:
最多分8類(O/S、RC、BIN1~BIN6)
7.通訊:
使用RS-232通訊協定
二、功能操作
2-1前面板
1.螢幕(LCD):
顯示測試機的各項參數及功能,可透過按鍵來設定。
2.按鍵(Data-Entry):
更改設定用。
3.指示燈(Measurestatus):
顯示測試的結果。
4.測試座(D.U.T):
待測材料放置的位置。
2-2後面板
1.CONTROLSIGNAL:
控制信號輸出與輸入。
2.RS-232:
與PC或測試機通信。
3.PRINTER:
保留。
4.INTERFACE:
控制信號輸出與輸入(與機台連接)。
5.STARTIN:
保留。
6.DRIVEROUT:
保留。
7.D.U.T:
與前面板相同。
2-3測試機各畫面說明
各畫面的操作皆要透過面板上的按鍵(Data-Entry)完成。
更改設定要先按“編輯“鍵進入編緝模式,配合“↑“、“↓“、“←“、“→“鍵來移動游標,再進行設定值的變更。
2-3-1畫面一(主畫面)
主畫面上顯示測試機型號、測試時間、規格儲存編號、接觸電阻、各測試參數的讀值、分BIN、材料測試方向、計數器,可設定材料的順向電流(IF)大小與測試時間(PW)長短及分BIN規格。
計數器歸零:
1.在主畫面上按下“編輯“鍵進入編緝模式,畫面上會出現游標。
2.在按下“計數器歸零“鍵。
3.再按下“輸入“鍵即可。
2-3-2畫面二
可設定材料的逆向電流(IB)大小與測試時間(PW)長短、電壓的檔位及分BIN規格來測試VR與DVR參數。
2-3-3畫面三
可設定材料的逆向電流(IB)大小與測試時間(PW)長短及分BIN規格來測試SG參數。
2-3-4畫面四
可設定材料的逆向電壓(VR)大小與測試時間(PW)長短、電壓的檔位及分BIN規格來測試IR與DIR參數。
2-3-5畫面五
此畫面的設定是與機台連線時的交換信號,如單機使用可不用設定。
另外還顯示測試機連續測試時的速度、接觸不良的計數器。
2-3-6主目錄畫面
1.SELFCHECK:
測試機自檢功能。
2.EXT.RES.CHECK:
外部檢測功能。
3.PROGRAMREAD:
規格讀取功能。
4.PROGRAMSAVE:
規格儲存功能。
5.TESTMODE:
變換測試模式。
2-3-7SELFCHECK畫面
IFCHECK
1.在主畫面中按下“主目錄“鍵。
2.在主目錄畫面中按下“1“鍵,會出現選項。
3.按下“1“鍵,會出現測試畫面。
4.按下“測試“鍵,會出現以下畫面。
VRCHECK
1.在主畫面中按下“主目錄“鍵。
2.在主目錄畫面中按下“1“鍵,會出現選項。
3.按下“2“鍵,會出現測試畫面。
4.按下“測試“鍵,會出現如下頁畫面。
IRCHECK
1.在主畫面中按下“主目錄“鍵。
2.在主目錄畫面中按下“1“鍵,會出現選項。
3.按下“3“鍵,會出現測試畫面。
4.按下“測試“鍵,會出現以下畫面。
2-3-8EXT.RES.CHECK畫面
外部檢測時只能對材料做正向測試,無法做逆向測試,同時只能測試一種參數。
2-3-9PROGRAMREAD畫面
1.在主畫面中按下“主目錄“鍵。
2.在主目錄畫面中按下“3“鍵,進入此畫面。
3.在游標的地方選擇讀取位置。
4.按下“輸入“鍵即可讀出記錄的設定。
2-3-10PROGRAMSAVE畫面
1.在主畫面中按下“主目錄“鍵。
2.在主目錄畫面中按下“4“鍵,進入此畫面。
3.在游標的地方選擇記錄位置。
4.按下“輸入“鍵即可記錄設定(畫面一~五的設定值)。
2-3-11TESTMODE畫面
變更測試模式:
1.在主畫面中按下“主目錄“鍵。
2.在主目錄畫面中按下“5“鍵。
3.進入TESTMODE畫面後,按下“編輯“鍵。
4.選擇“1“或“2“鍵後,按下“輸入“鍵。
5.按下“ESC“鍵後回到主畫面。
三、內部校驗
3-1準備工具
A.D.V.M.(H.P.34401A)或同級以上之設備含標準高壓測試棒(耐壓1000V以上)。
B.調整棒
C.絕緣手套
3-2注意事項
A.做校正時為DC高壓輸出。
B.校正者須穿戴耐高壓之絕緣手套,以防電擊。
C.系統須接地良好。
D.校正者須有E.E.背景及經過訓練合格者。
E.室內溫度約25℃±3,濕度小於60%RH。
F.開機至少20鐘以上。
3-3校正程序說明
A.啟動電源開關
B.不用延長基板,亦不必切換SW。
C.於主畫面,按”SHIFT”鍵不放,再按4個9999,內定密碼(shift+9999),即可出現如下畫面。
**M/CCHECKING**
1﹒DAC0
CALIBRATION
2﹒ADC
CALIBRATION
3﹒HV
CALIBRATION
4﹒IB
CALIBRATION
5﹒OPTION﹒﹒﹒
D.依順序由1~4項目作校正。
3-4DAC0的校驗
DAC0CALIBRATION
CALIBRATE
ADJUSTING
MEASURING
TP5
1:
0.000V
VR10
2:
9.000V
VR12
**VR10,12,TP5→ADDAPCB**
1.校正基板為第三片ADDA-PCB
2.D.V.M.DC電壓檔,(+)端置於TP5(DAC0),(-)端置於TP7(0GND)。
3.選擇1:
0.000V,按”測試”鍵,調整VR10使TP5之電壓為0.000V±2mv。
4.選擇2:
9.000V,按”測試”鍵,調整VR12使TP5之電壓為9.000V±2mv。
5.重複3及4之動作2~3次,直到準確為止。
3-5ADC的校驗
ADCCALIBRATION
CALIBRATE
ADJUSTING
READ
(V)
1:
0.001V
VR6
2:
9.000V
VR5
**VR5,6→ADDAPCB**
1.校正基板為第三片ADDA-PCB。
2.選擇1:
0.001V,按”測試”鍵,L.C.D.上會自動顯示讀值,一面調整VR6,一面觀看讀值,使L.C.D.顯示值(READ值)為+0.001V。
3.選擇2:
9.000V,按”測試”鍵,調整VR5,使L.C.D.顯示值(READ值)為9.000V±2mV
4.重複2及3之動作2~3次,直到準確為止。
3-6HV的校驗
用D.V.M.DC電壓檔做HV或MHV校正時,(+)端都置於MHVPCB之TP1(TPA)點,(-)端置於ADDAPCB之AGND,在按↑、↓鍵,依順序由1~6做校正。
HVCALIBRATION
D.V.M(3446A):
DCvoltage,connect(+)toMHVTP1,
connect(-)toAGND
CALIBRATE
ADJ.
DVM
ADJ.
READ
1:
900V
HV-VR5
900±0.5
HV-VR6
2:
100V
HV-VR2
100±0.5
HV-VR4
3:
90.00V
MHV-VR5
90±0.05
4:
10.00V
MHV-VR7
10±0.05
5:
400.0V
MHV-VR6
400±0.5
MHV-VR2
6:
100.0V
100±0.5
MHV-VR1
第1、2項高壓校正:
(1)D.V.M.讀值校正
a.選擇1:
900V,按”測試”鍵,調整HVPCB的VR5,使DVM讀值為900±0.5V。
b.選擇2:
100V,按”測試”鍵,調整HVPCB的VR2,使DVM讀值為100±0.5V。
c.重複a、b之步驟2~3次,直到準確為止。
(2)L.C.D.顯示(READ值)校正
a.選擇1:
900V,按”測試”鍵,調整HVPCB的VR6,使LCD讀值為900V。
b.選擇2:
100V,按”測試”鍵,調整HVPCB的VR4,使LCD讀值為100V。
c.重複a、b之步驟2~3次,直到準確為止。
第3、4項低壓校正:
a.選擇3:
90.00V,按”測試”鍵,調整MHVPCB的VR5,使DVM之讀值為90.00±0.05V。
b.選擇4:
10.00V,按”測試”鍵,調整MHVPCB的VR7,使DVM之讀值為10.00±0.5V。
c.重複a、b之步驟2~3次,直到準確為止。
第5、6項中壓校正:
(1)D.V.M.讀值校正
a.選擇5:
400.0V,按”測試”鍵,調整MHVPCB的VR6,使DVM讀值為400.0±0.5V。
b.重複上述動作,直到準確為止。
(2)L.C.D.顯示(READ值)校正
a.選擇5:
400.0V,按”測試”鍵,調整MHVPCB的VR2,使LCD之讀值為400.0。
b.選擇6:
100.0V,按”測試”鍵,調整MHVPCB的VR1,使LCD之讀值為100.0。
c.重複a、b之步驟2~3次,直到準確為止。
3-7IB的校驗
IBCALIBRATION
CALIBRATE
ADJUSTING
MEASURING
TPA
1:
-0.50uA
VR8
2:
-100.0uA
VR7
**VR7,8,TPA→IBPCB**
1.用D.V.M.DC電流檔,(-)端置於ADDAPCB之AGND(TP7),(+)端置於IBPCB之TPA,打開電源。
2.選擇1:
-0.50uA,按”測試”鍵,調整VR8,使TPA電流為-0.48uA~-0.52uA。
3.選擇2:
-100.0uA,按”測試”鍵,調整VR7,使TPA電流為-100.0uA±0.2uA。
4.重複2及3之動作2~3次,直到準確為止。
四、故障排除
4-1注意事項
1、RELAY是消耗品,其壽命並不能保証一定可以使用多少時間或次數。
2、MHVPCB與HVPCB是互相有關聯的,如果HVPCB有故障,可能會影響MHVPCB,相對的MHVPCB有故障,也可能會影響HVPCB
3、跳火情形檢測:
先將DUT端的材料移除,使DUT呈現開路狀態,用主目錄(MENU)的EXT.RES.CHK功能中的EXTERNALRES.CHECK(VR)測試,設定VRRANGE
(1)、IB1=100uA、PW=40ms測試應產生最高電壓約2000V,如產生跳火現象就無法產生最高電壓
4、可能產生跳火原因:
1、測試片或測試座與機台的絕緣不夠好
2、測試線破皮或絕緣不夠好
3、當四線式被改為二線式時,機台的測試時間調整不當
5、跳火造成影響:
1、所測試的參數數據不準確,不能參考
2、因數據不準確造成分BIN不準確
3、測試機功能易損壞
4、若與機台連線可能干擾到機台控制
4-2各電路板的功能
卡號
功能說明
CPU
測試機的控制核心
DRV
與機台連線的控制
ADDA
數位/類比轉換(數模轉換)
PS
小電壓直流電源
IO
控制各種參數的切換測試與面板指示燈顯示
IF
提供順向電流,測試VF參數
IB
提供逆向電流,測試VR參數
CHK
自我檢測
DUT
待測材料各種參數的檢測
MHV
提供及產生0.0~400.0V的電壓
HV
提供及產生0~1999V的電壓與漏電流的讀取
4-3檢測故障點
4-3-1CPU功能
如果測試機能夠開機,CPUPCB的功能大致上沒什麼問題。
4-3-2DRV功能
DRVPCB功能在於控制外部與測試機連接的機構(如電磁閥、撥爪等)。
4-3-3ADDA功能
可使用校驗程序中的ADC項目來檢測ADDAPCB功能是否正常。
4-3-4PS功能
PSPCB上有各個直流電壓的指示燈,開機時所有的指示燈應全被點亮。
4-3-5IO功能
IOPCB主要控制IF、IB、CHK、DUT、MHV、HV各PCB的RELAY的動作,如果各PCB上的指示燈在做該項測試時未動作(亮燈)或是開機時PCB上的指示燈就是亮著的,有可能是IO的控制故障,或是各PCB上的線路故障。
4-3-6由SELFCHECK的IFCHECK檢測
1、1~8項P/F全部顯為PASS表示IFPCB的功能是正常的,反之只要有顯為FAILE表示IFPCB故障
2、如P/F顯示FAILE的項目的READ值是偏大或偏小一點,可能是測試機精度不準
3、如1~8全部顯為FAILE且READ值為同一個值,但不是0.000,請檢查ADDAPCB功能是否正常,
4-3-7由SELFCHECK的VRCHECK檢測
1、VR檢測1~6項P/F為FAILE,IR檢測1~6項P/F為PASS,可能IBPCB故障
2、VR檢測1、2項P/F為FAILE,VR檢測3~6項和IR檢測1~6項P/F為PASS,可能HVPCB上的VR測試部份故障
3、VR檢測3~6項P/F為FAILE,VR檢測1、2項和IR檢測1~6項P/F為PASS,可能MHVPCB上的VR測試部份故障
4-3-8由SELFCHECK的IRCHECK檢測
4、IR檢測1~6項P/F為FAILE,VR檢測1~6項P/F為PASS,可能HVPCB上的IR測試部份(READ)故障
5、IR檢測1、2項P/F為FAILE,IR檢測3~6項和VR檢測1~6項P/F為PASS,可能HVPCB上的IR測試部份故障
6、IR檢測3~6項P/F為FAILE,IR檢測1、2項和VR檢測1~6項P/F為PASS,可能MHVPCB上的IR測試部份故障
4-3-9DUT
如果SELFCKECK的IF、VR、IR所有選項都是PASS,那表示所有的PCB都是好的,但是經由外部DUT的測試有不正常的現象,那就可能是DUTPCB故障。
五、內部校驗
5-1準備工具
A.D.V.M.(H.P.34401A)或同級以上之設備含標準高壓測試棒(耐壓1000V以上)。
B.調整棒
C.絕緣手套
5-2注意事項
A.系統須接地良好。
B.校正者須有E.E.背景及經過訓練合格者。
C.室內溫度約25℃±3,濕度小於60%RH。
D.開機至少20鐘以上。
5-3校正程序說明
A.关闭电源开关。
B.断开测试机与测试盒的连接。
C.啟動電源開關
D.不用延長基板。
E.於主畫面,按”SHIFT”鍵不放,再按4個9999,內定密碼(shift+9999),即可出現如下畫面。
F.依順序由1~4項目作校正。
5-4DAC0的校驗
選擇”1”時,按”輸入”做DAC0校驗畫面如下:
1.校正基板為第三片ADDA-PCB
2.D.V.M.(電錶),(+)端置於TP5(DAC0),(-)端置於TP7(0GND)。
3.選擇1:
0.000V,按”測試”鍵,調整VR10使TP5之電壓為DC0.000V.
4.選擇2:
1.000V,按”測試”鍵,調整VR12使TP5之電壓為1.000V±2mv。
5.重複3及4之動作2~3次,直到準確為止。
5-4DAC1的校驗
選擇”2”時,按”輸入”作DAC1校驗畫面如下:
1.校正基板為第三片ADDA-PCB
2.D.V.M.(電錶),(+)端置於TP2(DAC1),(-)端置於TP4(1GND)。
3.選擇1:
1.000V,按”測試”鍵,調整VR9使TP2之電壓為DC1.000V±2mv。
4.重複2之動作2~3次,直到準確為止。
5-5ADC的校驗
選擇”3”時,按”輸入”作A/D校正畫面如下:
1.校正基板為第三片ADDA-PCB。
2.選擇1:
0.001V,按”測試”鍵,L.C.D.上會自動顯示讀值,一面調整VR6,一面觀看讀值,使L.C.D.顯示值(READ)為0.001V。
3.選擇2:
1.000V,按”測試”鍵,調整VR5,使L.C.D.顯示值(READ)為1.000V±2mV
4.重複2及3之動作2~3次,直到準確為止。
5-6TRRINTERNALCHECK的校驗
※此項目必需配合示波器(300MHZ以上)才能做校驗
1.關掉測試機電源。
2.將示波器畫面調整垂直每格1伏特,基準線在-3伏。
3.將示波器畫面調整水平每格10nS。
4.用下降沿触发。
5.校正基板為第六片(由右至左數)READING-PCB。
6.將探棒勾在READING-PCBTP10探棒需接地。
7.將READING-PCBSW1撥2為ON(1和3在OFF的位置上)。
8.開機按Shift9999進入校驗畫面。
選擇”4”時,按”輸入”作WAVE校正畫面如下:
INTERNALCHECK
CHECK
SW1
SW1
SW1
RANGE
READ
P/F
<1>
<2>
<3>
(nS)
1:
50nS
OFF
ON
OFF
45-55
2:
900nS
OFF
OFF
ON
890-910
**NORMAL
ON
OFF
OFF
**SW1---------------->READING-PCB
9.選擇1:
50nS按測試。
10.調整READING-PCB上的VR6使波形調整至50nS(如下圖)。
11.將探棒取下按測試調整讀值VR3為50nS。
12.關掉測試機電源。
13.將READING-PCBSW1撥3為ON(1和2在OFF的位置上)。
14.開機按Shift9999進入校驗畫面。
15.選擇”4”時,按”輸入”作WAVE校正畫面。
16.選擇2:
900nS按測試。
17.調整READING-PCB上的VR7使波形調整至900nS(如下圖)。
18.將探棒取下按測試調整讀值VR4為900nS。
19.關掉測試機電源。
20.將READING-PCBSW1撥1為ON(2和3在OFF的位置上)。
5-7TRR讀值校驗
1.关闭测试机电源。
2.连接测试机与测试盒。
3.將SAMPLE放置D.U.T測試。
4.先調整IF電流為0.495A~0.505A,調整第7片(由右至左數)IF/VR/PS-PCB的VR2(看畫面)。
5.調整SAMPLE分別為15nS,50nS,100nS,150nS,調整第7片(由右至左數)IF/VR/PS-PCB的VR1(看畫面)。
(shift+8888是自动测试,shift+输入是取消自动测试。
)
六、故障排除
1.先做暫存器資料清除的動作(SHIFT+1234)
2.再做儀校(SHIFT+9999)確認準位有無跑脫,一般只需做前3項DAC0、DAC1、ADC的校正即可,第4項一般在出廠時才需校驗。
(☆儀校時表棒(+)極先勾與一般機台不同)
3.確認PCB板上各點之電壓是否正常
4.READ板與VFVR板
PCB
TESTPOINT
VOLTAGE
調整旋鈕
READ
TP7
4.8V~5.2V
------
READ
TP8
-1.200V
VR8
READ
TP9
4.1V~4.2V
------
VFVR
TP1
-56~-58V
VR1
VFVR
TP2
42~44V
VR2
VFVR
TP3
0V
------
READ板
(1)TP9電壓太低時,可更換U4。
(2)IF讀值不穩定時(指讀值會跳動至0.000或9.999或RC時),可更換U1。
VFVR板
(1)TP3平時應為零電位,如TP3上有+43V的電壓時,為Q4或Q5損毀或不良(此項一般為Q4 損毀之機會較大)。
(2)TP3上有一-58V的電壓存在時,則為小盒子內的Q1損毀或不良。
5.TRR的讀值浮動太大時(一般浮動在2個nS)
甲、先確認是否DUT線的影響(可能地線斷掉)。
乙、可先更換VFVR板的U9。
丙、如沒改善則是小盒子的U2有不良或損毀。
七、故障排除
VC維修(只適用舊機型)
1.當PCB燒毀時,請勿更換新的PCB,嚴禁再做儀表自我檢測。
2.將測試機電源關閉,HV保險絲拆下。
3.將測試機的上蓋板拆下,量測1DI300Z-120、1DI480A-055是否損壞,在量測前需將C極和E極的接線拆下,使其成斷路狀態,使用電表x10KΩ檔量測C極和E極是否短路,若有損壞需更換。
4.檢查RL1、RL2、RL7的RELAY是否良好,還有RL7上的50Ω電阻是否燒毀。
5.完成3、4項檢查後,將好的PCB(HIP,LIP)插入開啟電源(此時HVFUSE保持卸下狀態)。
6.使用示波器檢測HIP-PCB上TP1和TP2的檢測點是否有如下圖的動作。
7.
使用示波器檢測LIPTP1,TP2的檢測點是否有動作如下圖
8.檢查D.U.TPCB上的水銀開關是否正常。
9.檢測SOP、CRA、CRK是否正常。
10.完成5、6、7、8、9項目後,將HVFUSE(1
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- TK168D 列印 操作手册